| 【BIO001800】(Flow Cytometry)【in service】 |
| 【BIO002000】(Confocal Spectral Microscope Imaging System and Live Cell Imaging System)【in service】 |
| 【BIO002100】(Multiphoton and Confocal Microscope System)【in service】 |
| 【BIO002200】(Fluorescence-activated cell sorter)【in service】 |
| 【BIO002500】(BD FACSAria III sorter)【in service】 |
| 【BIO002500】( Olympus FV1000 Confocal Microscope)【in service】 |
| 【BIO002600】(Inverted confocal microscopy)【in service】 |
| 【BIO002900】(Confocal microscopic system)【in service】 |
| 【BIO003000】(Micro Computed Tomography)【in service】 |
| 【EA000100】(Elemental analyzer (Elementar vario EL cube))【in service】 |
| 【EA000200】(Elemental analysis: Elementar vario EL cube-CHNS & O)【in service】 |
| 【EA000600】(Elemental Analyzer)【in service】 |
| 【EM0000007900】(6500F Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM0000008200】(Laser Scanning Confocal Spectral Microscope System)【in service】 |
| 【EM0000008800】(Atomic force microscopy)【in service】 |
| 【EM0000011200】(Filed emission scanning electronic microscope)【in service】 |
| 【EM0000011300】(FEI Tecnai F20 G2 Field-emission Scanning Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM0000012200】(JEOL JEM-2010 ELECTRON MICROSCOPE)【in service】 |
| 【EM0000012300】(X-ray Photoelectron and Auger Electron Epectroscopy)【in service】 |
| 【EM0000013900】(Dual beam(focused ion beam & electron beam)System)【in service】 |
| 【EM0000016000】(Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope (CANR))【in service】 |
| 【EM0000017400】(High Resolution STEM)【in service】 |
| 【EM0000017500】(Field Emission Gun Transmission Electron Microscopy)【in service】 |
| 【EM0000019200】(Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM0000021600】(Scanning Electron Microscopy)【in service】 |
| 【EM0000022100】(Cold Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM000100】(Cold-field emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM000200】(Hitachi H-7100 (TEM) / FEI Tecnai G2 (HR-TEM 200kV)/FEI Tecnai T12 120keV)【in service】 |
| 【EM000600】(Analytical Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM000700】(Multi-function environmental field emission scanning electron microscope with EDS and EBSD)【in service】 |
| 【EM000800】(High Resolution Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM000800A】(Liquid Cell Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM001200】(Field Emission Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM001500】(Field-Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM001600】(JEOL 3010 Analytical Scanning Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM001800】(HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)【in service】 |
| 【EM002100】(Scanning Probe Microscopy)【in service】 |
| 【EM002800】(Ultra High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope and Electron Back-Scattered Diffraction)【in service】 |
| 【EM002900】(High resolution thermal field emission scanning electron microscope)【in service】 |
| 【EM003100】(測試主項儀器-未開放)【in service】 |
| 【EM003600】(HIGH RESOLUTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)【in service】 |
| 【EM003900】(High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM004000】(High Contrast Transmission Electron Microscope)【EQP. Error】 |
| 【EM004200】(JEOL JSM-7800F Prime Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM011500】(Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM011600】(Ultrahigh resolution cold field emission scanning electron (CFE-SEM))【in service】 |
| 【EM011700】(Field Emission Scanning Electron Microscope(JEOL-JSM7610F))【in service】 |
| 【EM011800】( Field Emission scanning/ transmission electron microscope)【in service】 |
| 【EM011900】(7900F Field Emission Scanning Electron Microscope )【in service】 |
| 【EM012200】(Ultra High Resolution Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM012500】(Ultramicrotome)【in service】 |
| 【EM012600】(Transmission Electron Microscopy)【in service】 |
| 【EM012900】(Cold Field-Emission Scanning Electron Microscopy ( HITACHI Regulus-8100 ))【in service】 |
| 【EM013200】( Atomic Force Microscope)【in service】 |
| 【EM013300】( Confocal microscope living cells incubator)【in service】 |
| 【EM013400】(Thermo Fisher Spectra 300 Double-Corrected Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM013400A】(Thermo Fisher Spectra 300 Double-Corrected Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM022300】( Ultra-High Resolution FE-SEM )【in service】 |
| 【EM022400】(Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F)【in service】 |
| 【EM022500】(Electron Microscopes(Dual-Beam Focus Ion Beam/Field Emission Scanning Electron Microscope))【in service】 |
| 【EM022600】(JEOL JEM-2100 ELECTRON MICROSCOPE)【in service】 |
| 【EM022700】(Dual Beam-Focused Ion Beam System)【in service】 |
| 【EM023100】(JEOL JSM-7600F Ultra-High Resolution Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope with Oxford Xmax80 energy dispersive X-ray spectrometer)【in service】 |
| 【EM023200】(Focused Ion Beam System(FIB))【in service】 |
| 【EM023300】(Spherical Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscope (Cs-corrected STEM))【in service】 |
| 【EM023400】(Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM)【in service】 |
| 【EM023500】(FEI Versa 3D High-Resolution Dual-Beam Focus-Ion-Beam System)【in service】 |
| 【EM023600】(Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) & Energy Dispersive Spectrometer)【in service】 |
| 【EM023700】(Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM024100】(Scanning Probe Microscope)【in service】 |
| 【EM024300】(Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy)【in service】 |
| 【EM024500】(Electron Microscope- FE-TEM(liquid samples and soft matters))【in service】 |
| 【EM024600】(SEM ZEISS ∑IGMA Essential)【in service】 |
| 【EM024700】(FESEM+EDS/WDS system)【in service】 |
| 【EM024800】(AFM(Scanning Probe Microscope System) )【in service】 |
| 【EM024900】(High Resolution Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM025000】(High Resolution Transmission Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM025100】(Focused Ion and Electron Beam System)【EQP. Error】 |
| 【EM025200】(Advanced focused ion beam system)【in service】 |
| 【EM025400】(JSM-7100F Scanning Electron Microscopy (SEM) and Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS))【in service】 |
| 【EM025500】(ATOMIC FORCE MICROSCOPE)【in service】 |
| 【EM025600】( Talos F200X G2, High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM025700】(High-Resolution Scanning Electron Microscope)【in service】 |
| 【EM025800】(Multifunctional Low-Voltage Transmission Electron Microscope )【in service】 |
| 【EM025900】(Scanning Probe Microscopy-Scanning Electrochemical Microscopy)【in service】 |
| 【EM026200】(1)【in service】 |
| 【EPMA000100】(Field Emission Electron Probe Microanalyzer JEOL JXA 8530F)【EQP. Error】 |
| 【EPMA000200】(High Resolution Hyper Probe)【in service】 |
| 【EPMA000300】(Field Emission Gun Electron Probe MicroAnalyzer(JEOL JXA-8530F PLUS))【in service】 |
| 【EPR000000400】(Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer)【in service】 |
| 【EPR000100】(Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer)【in service】 |
| 【EPR000100A】(Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer)【in service】 |
| 【EPR000500】(High-Resolution Low-Temperature Electron Magnetic Resonance Spectrometer)【in service】 |
| 【EPR000600】(Electron Paramagnetic Resonance spectrometer)【in service】 |
| 【ESCA00001600】(High-Resolution X-ray Photoelectron Spectrometer)【in service】 |
| 【ESCA00002100】(Auger Electron Spectroscopy)【in service】 |
| 【ESCA00003000】(X-Ray Photoelectron Spectroscopy)【in service】 |
| 【ESCA00003100】(Electron Spectroscope for Chemical Analysis)【in service】 |
| 【ESCA000200】(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)【in service】 |
| 【ESCA000300】(Electron spectroscopy for chemical analysis)【in service】 |
| 【ESCA001700】(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)【in service】 |
| 【ESCA001800】(Dual sources photoemission spectroscopy)【in service】 |
| 【ESCA001900】(X-ray Photoelectron Spectroscopy)【in service】 |
| 【ESCA002000】(ESCALAB Xi+ X-ray Photoelectron Spectrometer Microprobe)【in service】 |
| 【ESCA002100】( AES/ESCA Scanning Microprobe)【EQP. Error】 |
| 【ESCA003300】(X-ray Photoelectron Sperctroscopy)【in service】 |
| 【ESCA003400】(X-ray photoelectron spectroscopy)【in service】 |
| 【ESCA003500】(Photoelectron spectroscopy )【in service】 |
| 【ESCA003600】(X-ray Photoelectron Spectroscopy)【in service】 |
| 【ESCA003700】( X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS))【in service】 |
| 【ESCA003800】(ESCA, XPS, HAXPES)【in service】 |
| 【ESCA003900】( X-ray photoelectron spectroscopy)【in service】 |
| 【HLS000100】(Helium Liquefier System)【in service】 |
| 【HLS000300】(Helium liquefaction system)【in service】 |
| 【ICP000200】(Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【ICP000300】(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer)【in service】 |
| 【ICP000400】(HR-ICPMS)【in service】 |
| 【ICP000700】(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS0000003700】(Liquid Chromatograph-Tandem Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS0000003800】(High Resolution LTQ Linear Ion Trap MS)【in service】 |
| 【MS0000004900】(Matrix-assisted Laser Desorption Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometry)【in service】 |
| 【MS000100】(Orbitrap QE Plus Mass Spectrometry)【in service】 |
| 【MS000400】(High Resolution TOF- Mass spectrometer)【in service】 |
| 【MS000500】(AccuTOF GCX HRMS)【in service】 |
| 【MS000900】( Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS001000】(High Resolution Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS001300】(High Resolution Mass Spectrometer)【EQP. Error】 |
| 【MS001600】(High Resolution Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS004000】(CE/LC-MS; High Resolution Orbitrap Mass Spectrometry Coupled with Liquid Chromatography/Microchip Electrophoresis)【in service】 |
| 【MS004200】( LCMSMS)【in service】 |
| 【MS004800】( MALDI-TOF Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS004900】(Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS005400】(Orbitrap mass spectrometer)【in service】 |
| 【MS005600】(Electrospray Ionization Quadrupole Time-of-Flight Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS005700】(AMS Radiocarbon dating)【in service】 |
| 【MS005900】(Electron Ionization Double-Focusing Magnetic Sector Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS006100】(Inductively coupled plasma mass spectrometry)【in service】 |
| 【MS006300】(Ultra High Resolution Mass Spectrometry )【in service】 |
| 【MS006400】(LTQ Orbitrap XL)【in service】 |
| 【MS006500】(Orbitrap Exploris 120 mass spectrometer)【in service】 |
| 【MS006600】(Orbitrap Fusion Lumos Tribrid Mass Spectrometer)【in service】 |
| 【MS006700】(UHPLC-Q E Plus Orbitrap Mass Spectrometry)【EQP. Error】 |
| 【MS006800】( Quadrupole Orbitrap high-resolution mass spectrometer)【in service】 |
| 【NMR000003700】(Bruker-Avance-600 MHz NMR)【in service】 |
| 【NMR000004600】(VARIAN 700 NMR)【in service】 |
| 【NMR000200】(BRUKER AVANCE III 400MHz Solid NMR)【in service】 |
| 【NMR000400】(Bruker AV III HD-600)【in service】 |
| 【NMR000500】(Agilent Technologies 600MHz NMR DD2)【in service】 |
| 【NMR000600】(Bruker AVIII-500MHz FT-NMR)【in service】 |
| 【NMR000800】(Bruker Avance III HD Solid State NMR)【in service】 |
| 【NMR001100】(JEOL ECZ-600R 600MHz NMR)【in service】 |
| 【NMR001200】(Bruker AVANCE 500 MHz NMR)【in service】 |
| 【NMR001600】(Nuclear Magnetic Resonance)【in service】 |
| 【NMR001700】(Bruker NMR)【in service】 |
| 【NMR001900】(600MHz NMR)【in service】 |
| 【NMR002000】(Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30)【EQP. Error】 |
| 【NMR002400】(Varian-Unity INOVA-500 MHz)【in service】 |
| 【NMR004600】(Nuclear Magnetic Resonance Spectroscopy Bruker AVANCE III 500 MHz)【in service】 |
| 【NMR004700】(5Bruker AV500 FT-NMR)【in service】 |
| 【NMR004700】(Nuclear Magnetic Resonance)【in service】 |
| 【NMR004800】(SIEMENS Trio A Tim System 3T MR)【in service】 |
| 【NMR004800】( NMR Spectrometer)【in service】 |
| 【NMR004900】(JEOL ECZ500R/S1 NMR)【in service】 |
| 【NMR004900】(Bruker AVIII-800 MHz NMR)【in service】 |
| 【NMR005000】(Nuclear Magnetic Resonance)【in service】 |
| 【NMR005000】(AVANCE NEO 500 solution-NMR)【in service】 |
| 【NMR005100】(600 MHz NMR Sectroscopy Analysis System)【in service】 |
| 【NMR005200】( 600 MHz Solid-State Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer)【in service】 |
| 【NMR005500】(Biological Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 850MHz)【in service】 |
| 【NMR005500A】(Biological Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer 850MHz)【in service】 |
| 【NMR005700】(Superconducting FT NMR Spectrometer AVANCE III HD 700 MHz)【in service】 |
| 【NMR005800】(Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer)【in service】 |
| 【NMR006000】(Solution 600 MHz Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer System)【in service】 |
| 【OTHER0000900】(Intelligent multi-function system for high-speed laser direct writing and photomask fabrication) Model: MLA150)【in service】 |
| 【OTHER001900】(Hysitron TI 980 TriboIndenter)【in service】 |
| 【OTHER002500】(Specific Surface Area and Porosimetry Analyzer)【in service】 |
| 【OTHER002600】( Particle Size and Zeta Potential Analyzer)【in service】 |
| 【OTHER002900】(X-ray diffractometer and femtosecond transient spectroscopy under extreme conditions)【in service】 |
| 【OTHER003200】(Geotechnical Centrifuge and Shaking Table)【in service】 |
| 【OTHER003300】(Microwave and millimeterwave signal generator and analyzer for channel measurement)【in service】 |
| 【OTHER003500】( Atomic Force Microscope)【in service】 |
| 【OTHER003700】( TRANSIENT ABSORPTION SPECTROMETER)【in service】 |
| 【SEMI00001300】(Thermal-Evaporation Deposition System)【in service】 |
| 【SEMI000600】(High Vacuum Deposition System)【in service】 |
| 【SEMI001100】(Reactive Ion Etcher ( Deep-Si RIE . HDP-RIE ）)【in service】 |
| 【SEMI001900】(III-V Molecular Beam Epitaxy System)【in service】 |
| 【SEMI002400】(Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD))【in service】 |
| 【SEMI002500】(Die-electric Material RIE 400iP)【in service】 |
| 【SEMI002700】(Pattern Generator)【in service】 |
| 【SEMI002800】(Oxidation & Diffusion furnaces)【in service】 |
| 【SEMI002900】(Low Pressure Chemical Vapor Deposition System)【in service】 |
| 【SEMI003000】(Aligner)【in service】 |
| 【SEMI003300】(High Density Plasma Chemical Vapor Deposition)【in service】 |
| 【SEMI003400】(Inductive Couple Plasma Etcher)【in service】 |
| 【SEMI003500】(Multi-Target Sputter)【in service】 |
| 【SEMI003600】(Dual E-Beam Evaporator)【in service】 |
| 【SEMI003700】(Rapid Thermal Annealing System)【in service】 |
| 【SEMI003800】(MASK Aligner and Exposure System)【in service】 |
| 【SEMI003900】(N & K analyzer)【in service】 |
| 【SEMI004000】(Atomic Layer Deposition System)【in service】 |
| 【SEMI004100】(Electron Beam Evaporation Deposition System)【in service】 |
| 【SEMI004200】(ICP RIE System, Chlorine base)【in service】 |
| 【SEMI004300】( Electron Beam Lithography System)【in service】 |
| 【SQUID0000600】(Superconductor Quantum Interference Device(SQUID))【in service】 |
| 【SQUID0000800】(Magnetic Property Measurement System(Superconducting Quantum Interference Device))【in service】 |
| 【SQUID000100】(Magnetic Property Measurement System MPMS3 Quantum Design Inc.)【in service】 |
| 【SQUID000200】(SQUID VSM)【in service】 |
| 【SQUID000200A】(SQUID VSM)【in service】 |
| 【SQUID000300】(Surperconducting Quantum Interference Devices Magnetometer)【EQP. Error】 |
| 【SQUID001000】(low temperature and high magnetic field system)【in service】 |
| 【SQUID001100】(Superconducting quantum interference device )【in service】 |
| 【SQUID001200】(Physical Property Measurement System)【in service】 |
| 【SQUID001200A】(Physical Property Measurement System-pressure cell)【in service】 |
| 【TA000100】(Thermal Analysis System)【in service】 |
| 【TA000200】(Thermal Analyzer)【in service】 |
| 【TA000400】( Thermogravimetric Analyzer)【in service】 |
| 【TA000500】( Differential scanning calorimetry)【in service】 |
| 【TA000600】( Simultaneous DSC-TGA)【in service】 |
| 【TA000700】(TAM IV Microcalorimeter system)【in service】 |
| 【VM000100】(Vibrational Spectroscopic Imaging system )【in service】 |
| 【VM000200】(3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer)【in service】 |
| 【VM000300】(Fourier-transform infrared spectroscopy)【in service】 |
| 【XRD000004600】(High Resolution X-ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD000200】(Single Crystal X-ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD000700】(Multi-function X-ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD001200】(Bruker D8 Venture (DUO))【in service】 |
| 【XRD001300】(Single Crystal X-Ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD001900】(Multipurpose High intensity X-Ray Thin-Film Micro Area Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD002000】(Macromolucular Crystallographic Instrument (MSC/Rigaku RU-H3R))【in service】 |
| 【XRD003100】(Single-Crystal X-Ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD003100A】(Single-Crystal X-Ray Diffractometer-High Pressure Service)【in service】 |
| 【XRD003200】( Single-crystal X-Ray diffractometer)【in service】 |
| 【XRD003300】( X-Ray Powder Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD003500】(Single Crystal X-ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD004700】(High Power X-ray Diffractometer)【EQP. Error】 |
| 【XRD004800】(Transmission/grazing-incidence small-angle X-ray scattering)【in service】 |
| 【XRD004900】(High performance low temperature and multi-function X-ray diffractometer)【in service】 |
| 【XRD005100】(成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD005200】(High Resolution X-Ray Diffraction)【in service】 |
| 【XRD005300】(X-ray Powder Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD005400】(High Power X-ray Diffractometer)【in service】 |
| 【XRD005500】()【in service】 |