|
1
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| 3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer | Instrumnt center of Chung Hsing University | 廠牌型號：Tokyo Instruments. Nanofinder 30 (共軛焦拉曼系統)
1.具影像Mapping 功能
2.激發波長 HeNe Laser (632.8nm) Semiconductor Laser (488nm)
3.解析度: XY resolution 200 nm (488 nm),320 nm(680 nm) Z resolution 200nm (330nm),320nm(660nm)
4.矽應力分析
|
|
Instrument Chinese Name
|
【VM000200】三維顯微拉曼光譜影像系統
|
【VM000200】三維顯微拉曼光譜影像系統
|
|
Instrument English Name
|
3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer
|
|
Instrument Category
|
Imaging system for vibrational spectroscopy
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):92
Number of Reservations(external):98
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
2
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| AFM(Scanning Probe Microscope System) | Instrumnt center of Chung Hsing University | Bruker Dimension Icon 掃描探針顯微鏡系統
解析度：X-Y< 0.15nm，Z<30pm (Close Loop)。
掃描範圍: 90 x 90 x 12 μm。
主要功能：
1.TappingMode: (大氣/液相) Phase image,
特殊模式 請聯絡中興大學校內貴重儀器
聯絡資訊
陳建宇 先生 22840508#192
聯絡地址
應用科技大樓1F 奈米中心
1.ScanAsyst, PeakForce QNM (大氣/液相)
2.Contact Mode:(大氣/液相), 側向力模式
3.磁力、靜電力顯微術,MFM、EFM,表面電位功函數KPM
4.Dark mode 掃描電容顯微鏡 SCM、 導電式顯微術 CAFM
5.Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy (PFM)
表面形貌掃描 2000元/hr
數據處理及傳輸 500元/件
委託操作 2000元/hr
|
|
Instrument Chinese Name
|
【EM024800】原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
|
【EM024800】原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
|
|
Instrument English Name
|
AFM(Scanning Probe Microscope System)
|
|
Instrument Category
|
Electron Microscope
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
| | | | | | | | | | | |
| Basic | 114 | surface scanning |
| surface scanning | 750 | 3,000 | 750 | 3,000 | No discount |
| Contact mode、Tapping mode 、ScanAsyst mode 含(表面形貌、粗糙度(Rq、Ra) |
| Basic | 114 | Mechanical 、 electrical 、Liquid phase scanning |
| Mechanical 、 electrical 、Liquid phase scanning | 900 | 3,000 | 900 | 3,000 | No discount |
| Modulus、CAFM 、SCM 、 PFM、KPFM、EFM、MFM 、Liquid Phase scanning |
| Basic | 114 | AFM peobe (used) |
| AFM peobe (used) | 300 | 500 | 300 | 500 | No discount |
| 非全新探針使用 |
| Basic | 114 | AFM peobe (new) |
| AFM peobe (new) | 1,000 | 1,350 | 1,000 | 1,350 | No discount |
| 全新探針使用 |
| Basic | 114 | AFM conductive or liquid phase probe (new) |
| AFM conductive or liquid phase probe (new) | 1,500 | 1,800 | 1,500 | 1,800 | No discount |
| |
 | Loading… |
|
|
|
|
3
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| Agilent Technologies 600MHz NMR DD2 | Instrumnt center of Chung Hsing University | 儀器購置年月：2013年12月
※ 儀器經費來源：國科會、中興大學
※ 廠牌及型號：美國 Agilent Technologies DD2
※ 重要規格：14.1 Tesla 超導磁場，氫核子共振頻率為 600 MHz
主要測試液態NMR光譜，包括1H、13C、31P、15N 及頻率在15N 到 31P 之間之核種
收費標準:
計畫預約：
一、光譜半小時內每一樣品120元。
二、光譜半小時後，每超過10分鐘加20元。
三、光譜若超過一小時，超過之部份，每半小時50元。
四、 整晚實驗每小時50元。
五、 需變溫實驗者每一溫度加收20元。
非計畫預約：
一、光譜半小時內每一樣品600元。
二、光譜半小時後，每超過10分鐘加200元。
三、光譜若超過一小時，超過之部份，每半小時200元。
四、整晚實驗每小時400元。
五、需變溫實驗者每一溫度加收200元。
|
|
Instrument Chinese Name
|
【NMR000500】超導核磁共振儀
|
【NMR000500】超導核磁共振儀
|
|
Instrument English Name
|
Agilent Technologies 600MHz NMR DD2
|
|
Instrument Category
|
Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):45
Number of Reservations(external):44
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
4
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer | Instrumnt center of Chung Hsing University | 電子順磁共振光譜(EPR)儀利用固定微波頻率予樣品，並改變外加磁場強度，藉以觀測樣品中未成對電子之變化，推算樣品自由基特性或金屬價數變化，廣泛應用於化學、材料、環工或生醫等領域。共振腔：Super High Q Cavity、Dual Mode Cavity、ENDOR、Double EPR Reasonator；實驗條件：光反應(可見光 / 紫外光 / 模擬太陽光 )、變溫系統（3.8 ~ 500 K）、電化學、光譜理論計算等
廠牌型號：Bruker EMX-Plus 10/12 , X-band
收費方式：
常規測量：200元/樣品起
照光反應：300元/樣品起
客製化實驗請洽操作員，謝謝。
聯絡人員：曾資賢 博士後研究員
e-mail：Thtseng@nchu.edu.tw
預約電話：04 - 2284 – 0234 # 291
地址：402 台中市南區興大路 145 號 應用科技大樓 114 室 |
|
Instrument Chinese Name
|
【EPR000000400】電子順磁共振儀
|
【EPR000000400】電子順磁共振儀
|
|
Instrument English Name
|
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
|
|
Instrument Category
|
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):54
Number of Reservations(external):50
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
| | | | | | | | | | | |
| Basic | 114 | Electron Nuclear Double Resonance, ENDOR |
| Electron Nuclear Double Resonance, ENDOR | 100 | 250 | 100 | 250 | No discount |
| 單一樣品分析超過15分鐘
a sample more then 15 min. |
| Basic | 114 | test at room temperature |
| test at room temperature | 200 | 500 | 200 | 500 | No discount |
| 基本室溫實驗，不含任何附加設備。
所有實驗皆包含單件樣品15分鐘分析服務，之後每15分鐘收費100元，不足15分鐘以15分鐘計算
Base on room temperature analysis sample.
All experiments come with a complimentary 15-minute analysis for a single sample. Subsequent analysis time will be charged at a rate of NT$100 per 15 minutes, with a minimum billing increment of 15 minutes. |
| Basic | 114 | Additional Appliances |
| Additional Appliances | 100 | 250 | 100 | 250 | No discount |
| 1. 定量使用-毛細管(Quantitative application – capillary)
2. 定量計算(Quantitative calculation)
3. Spin trap藥品使用(spin trap reagents)
4.變溫計價(Temperature-dependent) |
| Basic | 114 | Lighting reaction (UV/visible light) |
| Lighting reaction (UV/visible light) | 1,000 | 2,500 | 1,000 | 2,500 | No discount |
| 液氦變溫裝置單次操作費.
Liquid helium variable temperature device operation |
| Basic | 114 | EPR simulation |
| EPR simulation | 100 | 250 | 100 | 250 | No discount |
| EPR 光譜模擬軟體 - Xsophe
EPR spectrum simulation |
| Basic | 114 | test at room temperature |
| test at room temperature | 300 | 750 | 300 | 750 | No discount |
| 提供量測時原位(in situ)照光服務，三種光源：可見光 / 紫外光 / 模擬太陽光
提供變溫實驗，包含77K，200-400K變溫
提供電化學實驗
所有實驗皆包含單件樣品15分鐘分析服務，之後每15分鐘收費100元，不足15分鐘以15分鐘計算
We offer in-situ light irradiation services for measurements, utilizing three types of light sources: visible light, ultraviolet light, and simulated sunlight. Additionally, we provide variable temperature experiments, covering a range from 77K to 200-400K. Our services also include electrochemical experiments.
All experiments come with a complimentary 15-minute analysis for a single sample. Subsequent analysis time will be charged at a rate of NT$100 per 15 minutes, with a minimum billing increment of 15 minutes.
可見光 / Visiable：
光源 / Source：氙燈 / Xe Lamp
功率 / Power(W)：150
波長 / Wavelength(nm)：460 ~ 1000
紫外光 / UV：
光源 / Source：汞燈 / Hg Lamp
功率 / Power(W)：250
波長 / Wavelength(nm)：365
模擬太陽光 / simulated sunlight
光源 / Source：汞燈 / Hg Lamp
功率 / Power：100瓦 / 100W
波長 / Wavelength：200 ~ 1000 nm
濾光片範圍 / Filter (nm)： a.383~443 b.418~503 c.460~540 d.524~595 e.584~650 f.630~696 g.661~739
|
| Loading… |
|
|
|
|
5
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| Electron Spectroscope for Chemical Analysis | Instrumnt center of Chung Hsing University | 化學分析電子能譜儀，又名X射線光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectroscope, XPS)，是設計來進行物質表面定性與定量的化學分析。ESCA的基本功能為全能譜分析(survey analysis)、元素線掃描(line scan)、化學成像(chemical imaging)與成分縱深分佈(depth profiling)。成分縱深分佈包括離子濺擊縱深分佈與適用於超薄薄膜之角度解析(angle-resolved)縱深分佈兩種。儀器的廠牌及型號：ULVAC-PHI, PHI 5000 VersaProbe / Scanning ESCA Microprobe。服務的項目包含:全能譜圖 (survey)、單元素能譜圖 (multiplex)、元素線掃瞄 (line scan)、元素影像掃瞄 (mapping)、成份縱深分佈 (depth profiling)、超薄膜角度解析分析 (angle-resolved analysis)。收費標準以小時計算，每小時450元(包含開電荷補償50元/小時)，其他細項費用請詳閱服務辦法。 |
|
Instrument Chinese Name
|
【ESCA00003100】化學分析電子能譜儀
|
【ESCA00003100】化學分析電子能譜儀
|
|
Instrument English Name
|
Electron Spectroscope for Chemical Analysis
|
|
Instrument Category
|
Electron spectrometer
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):1
Number of Reservations(external):4
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
6
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| Elemental analyzer (Elementar vario EL cube) | Instrumnt center of Chung Hsing University | 德國製 Elementar vario EL cube 元素分析儀.可分析化合物中的NCHS及O元素之重量百分比. 所有樣品為委託操作. 計畫使用者: NCH 及 O 一般性樣品240元/件 NCH 及 O 特殊性(液態、空敏)樣品320元/件 NCSH一般性樣品450元/件 NCSH特殊性樣品(液態、空敏)560元/件 非計畫使用者及一般廠商: NCH 及 O 一般性樣品1,500元/件 NCH 及 O 特殊性樣品(液態、空敏)2,000元/件 NCSH一般性樣品3,000元/件 NCSH特殊性樣品4,000元/件。
有效測量範圍 [element absolute] :
C : 0.03~20mg、H : 0.03~3 mg、N : 0.03~2 mg、S : 0.03~6 mg、O : 0.03~2 mg。
樣品需要量 :
測NCH: 固體10-15 mg。
測 O: 樣品建議送測量10-15 mg。
測 S: 含量1%以上，送測量10-15 mg; 低於1%，建議送測量30 mg。
回件時間:送件前 可來電或來信告知需檢測元素及預測樣品數量，可告知預期回件時間。
儀器 運作原理 影片
https://www.youtube.com/watch?v=5f_E5fdq-3U |
|
Instrument Chinese Name
|
【EA000100】元素分析儀
|
【EA000100】元素分析儀
|
|
Instrument English Name
|
Elemental analyzer (Elementar vario EL cube)
|
|
Instrument Category
|
Elemental Analyzer
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):13
Number of Reservations(external):11
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
7
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F | Instrumnt center of Chung Hsing University | 1.場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)
‧加速電壓：200KV
‧放大倍率：X 50 to 1500K
‧解像度：Point Resoltion：≦0.23nm；Lattice Resoltion：≦0.1nm
‧聚焦束繞射(CBED)：Convergent Angle：1.5~20 mrad
2.能量散射光譜儀(EDS)
‧SDD detector (LN2 free)，80mm2 active area
‧Resolution：≦129ev
3.數位影像處理系統 (CCD)
‧CCD畫素：2K×2Kpixel
‧CCD影像輸出：全影或局部
4.附屬設備：EDS, STEM, Digital image system
|
|
Instrument Chinese Name
|
【EM022400】場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
|
【EM022400】場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
|
|
Instrument English Name
|
Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F
|
|
Instrument Category
|
Electron Microscope
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
8
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| Focused Ion Beam System(FIB) | Instrumnt center of Chung Hsing University | 一、廠牌型號 : JEOL JIB-4601F
二、相關規格 :
1.電子束解析度1.2 nm (30 kV)&3.0 nm (1 kV)，
2.電子槍型態:熱場發射式電子槍，
3.離子束規格：解析度5 nm，
4.離子槍型態：液態金屬鎵，
5.GIS沉積氣體：carbon，
6. TEM試片取出為玻璃針取樣，
7. EDS規格 : 元素偵測範圍:Be4~Pu94，偵測器解析度：等於或低於127 eV 。
三、收費標準 : 計畫預約者，委託操作採時段制，每時段3小時，每小時750元，EDS分析(含定性定量及Mapping)每次200元，鍍碳銅網一片50元。故未到者、未取消者皆需收取基本時段費用3小時2250元時數費。
預約請留意注意事項，預約後請再次檢閱預約單，預約後即視為認同相關規範。 |
|
Instrument Chinese Name
|
【EM023200】多功能聚焦離子束系統
|
【EM023200】多功能聚焦離子束系統
|
|
Instrument English Name
|
Focused Ion Beam System(FIB)
|
|
Instrument Category
|
Electron Microscope
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
9
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| High Resolution Mass Spectrometer | Instrumnt center of Chung Hsing University | 廠牌型號：Thermo Q-Exactive Plus
本系統除提供有機無機小分子進行高解析質譜分析外，亦可偵測蛋白質，高分子聚合物等大型分子。該設備搭配EI, ESI, MALDI等多種離子源，並具有MS/MS 高解析分析能力。
收費標準：NT$ 200/3000（件）
|
|
Instrument Chinese Name
|
【MS001000】高解析質譜儀
|
【MS001000】高解析質譜儀
|
|
Instrument English Name
|
High Resolution Mass Spectrometer
|
|
Instrument Category
|
Mass Spectrometer
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):22
Number of Reservations(external):32
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|
|
10
|
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
| High Resolution Transmission Electron Microscope | Instrumnt center of Chung Hsing University | 廠牌及型號：日本JEOL JEM-2010。
加速電壓：200 kv。
放大倍率：3000倍-100萬倍。
解析度：0.25nm（Point Resolution），0.14nm（Lattice Resolution）。
燈絲：單晶六硼化鑭（LaB6）。
功能：明視野，暗視野，選區繞射，單點EDS等模式。
試片傾斜角度：+-30度。
收費標準：執照者 300 元/時, 代測者 500 元/時
CCD 10 元/張
EDS 100 元/點 |
|
Instrument Chinese Name
|
【EM024900】高解析度穿透式電子顯微鏡
|
【EM024900】高解析度穿透式電子顯微鏡
|
|
Instrument English Name
|
High Resolution Transmission Electron Microscope
|
|
Instrument Category
|
Electron Microscope
|
|
Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
|
Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
|
|
|
|
|
|
Billing Trial Calculation
|
|
|