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1
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| | NTUST Precious Instrumentation Center | |
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Instrument Chinese Name
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【XRD005500】多功能 X 光繞射儀
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【XRD005500】多功能 X 光繞射儀
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Instrument English Name
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Instrument Category
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X-Ray Diffractometer
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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2
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| Atomic Force Microscope | NTUST Precious Instrumentation Center | 1.廠牌及型號：Bruker Dimension ICON
2.規格:
(1) 影像掃描解析度:1 nm
(2) 掃描範圍:90 × 90 × 10 μm
(3) 樣品載台(具有真空吸盤):最大直徑210 mm，厚度15 mm
(4) 抗震外殼: 主機外殼含氣浮式隔音防震平台，具有隔音、減震功能，能有效降低量測時所發生之雜訊
(5) 服務項目: 表面形貌及相圖(TappingMode、ScanAsyst Mode、Contact Mode)、機械性質( PeakForce QNM ) 、磁力顯微術(MFM Mode)、靜電力顯微術(EFM Mode)、表面電位(KPM Mode)、導電顯
微術 (C-AFM Mode)
3.★★★首次量測請填寫委託評估表(下載位置https://reurl.cc/jDxOzD)，並寄至技術員信箱，待確認樣品量測可行性後，再預約時段 |
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Instrument Chinese Name
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【OTHER003500】多功能原子力顯微鏡
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【OTHER003500】多功能原子力顯微鏡
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Instrument English Name
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Atomic Force Microscope
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Instrument Category
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Other
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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| | | | | | | | | | | |
| Basic | 114 | Advanced Basic Fee |
| Advanced Basic Fee | 600 | 1,200 | 300 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | Standard Basic Fee |
| Standard Basic Fee | 500 | 1,100 | 200 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | Surface Topography |
| Surface Topography | 300 | 1,400 | 300 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | Mechanical,electrical and magnetic property |
| Mechanical,electrical and magnetic property | 400 | 1,400 | 400 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | Standard Probe |
| Standard Probe | 1,200 | 1,200 | 1,200 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | Electrical and Magnetic Probe |
| Electrical and Magnetic Probe | 1,500 | 1,500 | 1,500 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | CD disc |
| CD disc | 10 | 10 | 10 | 0 | No discount |
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 | Loading… |
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3
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| Field Emission Gun Transmission Electron Microscope | NTUST Precious Instrumentation Center | ●儀器設備說明:
規格:
(1)加速電壓: 200 KV、
(2)TEM分辨率:高解析影像條件 A. Point Resolution：≦0.23nm (200 kV), B. Lattice Resolution：≦0.1nm,成份與結構分析條件 3 nm、
(3) 能量分散光譜儀 (EDS):
(i)機型: EDAX ,
(ii)元素偵測範圍: B ~ U (原子序 5~92),
(iii)解析度: 133 eV、
(4) 双傾斜試片座的最大傾斜角度: α±30˚、β±20˚ 。
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Instrument Chinese Name
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【EM0000017504】場發射槍穿透式電子顯微鏡(200KV：附能量散布分析儀）
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【EM0000017504】場發射槍穿透式電子顯微鏡(200KV：附能量散布分析儀）
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Instrument English Name
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Field Emission Gun Transmission Electron Microscope
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Instrument Category
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Electron Microscope
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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4
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| Field Emission scanning/ transmission electron microscope | NTUST Precious Instrumentation Center | 儀器設備說明:
˙規格:
(1)加速電壓: 200 KV
(2)TEM分辨率:0.12nm
(3)STEM HAADF分辨率: 0.16 nm
(4)Super-X EDS 系統: 對稱設計的4個SDD，無窗式
(5)快速 EDS 收集成像: 像素停留時間10 µs
(6)EDX 立体角: 0.9 srad
(7)camara length: 12–5700 mm
(8)双傾斜試片座的最大傾斜角度: ±30˚
(9)STEM Detector:BF、DF2、DF4、HAADF
服務項目：
針對不同類型材料，提供高解析度的影像觀察及微區繞射分析，也可進行樣品不同維度的影像及成分分析。
˙微結構觀察: 明視野、暗視野影像分析；高解析影像分析。
˙電子繞射分析。
˙不同維度之EDS定性及半定量成分分析。
˙EDS搭配STEM的BF, DF2, DF4, HAADF偵測器同步獲取影像和光譜訊號可進行光譜原素全畫面(full frame)、選區(selected area)和線掃描(line scan)等掃描分析模式。
˙NBD strain分析。
˙電子束體層攝影術影像及成分分析(S/TEM and EDS)。
˙樣品升溫反應資訊。
˙數據皆採數位電子影像系統存取，委託者請攜帶DVD光碟片存取檔案，一律禁用隨身碟。
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Instrument Chinese Name
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【EM011800】場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
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【EM011800】場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
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Instrument English Name
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Field Emission scanning/ transmission electron microscope
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Instrument Category
|
Electron Microscope
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):30
Number of Reservations(external):30
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Billing Trial Calculation
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| Basic | 114 | Operated by the qualified operators |
| Operated by the qualified operators | 1,500 | 1,500 | 0 | 0 | No discount |
| 每一時段以3小時計，未滿者亦以一時段計費。
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| Basic | 114 | Operated by the users his / her own |
| Operated by the users his / her own | 1,200 | 1,200 | 1,200 | 1,200 | No discount |
| 每一時段以3小時計，未滿者亦以一時段計費。
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| Basic | 114 | CCD image |
| CCD image | 20 | 20 | 20 | 20 | No discount |
| 數據皆採數位電子影像系統存取，委託者請攜帶DVD光碟片存取檔案，一律禁用USB隨身碟。 |
| Basic | 114 | EDS |
| EDS | 20 | 20 | 20 | 20 | No discount |
| 全能譜定性、半定量分析 |
| Basic | 114 | EDS Mapping |
| EDS Mapping | 400 | 400 | 400 | 400 | No discount |
| 此數據範圍內，可另外存取line scan分析數據。 |
| Basic | 114 | Additional sample |
| Additional sample | 200 | 200 | 200 | 200 | No discount |
| 1時段以放置1個樣品為基本，若需更換樣品，每件增加收費200元。 |
| Basic | 114 | Digital Versatile Disc |
| Digital Versatile Disc | 10 | 10 | 10 | 10 | No discount |
| 數據皆採數位電子影像系統存取，委託者請攜帶DVD光碟片存取檔案，一律禁用隨身碟。 |
| Basic | 114 | Overtime (Operated by the qualified operators) |
| Overtime (Operated by the qualified operators) | 500 | 500 | 0 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | Overtime (Operated by the users his / her own) |
| Overtime (Operated by the users his / her own) | 400 | 400 | 400 | 400 | No discount |
| |
| Basic | 114 | NBD |
| NBD | 10,000 | 10,000 | 0 | 0 | No discount |
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| Basic | 114 | MEMS device |
| MEMS device | 6,000 | 6,000 | 6,000 | 6,000 | No discount |
| 特殊樣品加熱分析實驗 |
| Loading… |
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| 6500F Field Emission Scanning Electron Microscope | NTUST Precious Instrumentation Center | 1.解析度(SEI):高解析影像條件1.5nm(15KV)
2.能量分散光譜儀(EDS oxford)：元素偵測範圍:B~U(原子序5~92)，解析度:133eV
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Instrument Chinese Name
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【EM0000007900】6500F高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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【EM0000007900】6500F高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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Instrument English Name
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6500F Field Emission Scanning Electron Microscope
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Instrument Category
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Electron Microscope
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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6
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| 7900F Field Emission Scanning Electron Microscope | NTUST Precious Instrumentation Center | 1.高解析度場發射掃描式電子顯微鏡(FE SEM)
解析度(SEI):高解析影像條件1.5nm(15KV)
放大倍率:10x~1000,000x 影像輸出:燒錄數位影像紀錄
2.能量分散光譜儀(EDS)
元素偵測範圍:Be~U(原子序4~92)
解析度:133eV
3.電子背向散射繞射儀(EBSP)
軟體功能:a.結晶方位分析(依據菊池線分析) b.微區晶相圖像
c.晶軸及反晶軸圖像
貳.試片要求
1.SEI及EDS試片尺寸:直徑25mm,高度20mm
2.EBSP試片尺寸:直徑10mm,高度10mm
參.開放時段
週一.周二.週四上午9:00~12:00以及下午14:00~17:00各一個時段；排定時段欲取消須於3日前通知，排定時段30分鐘內未到者，逕予以取消並扣基本費900元。 |
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Instrument Chinese Name
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【EM011900】7900F 高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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【EM011900】7900F 高解析度場發射掃描式電子顯微鏡
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Instrument English Name
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7900F Field Emission Scanning Electron Microscope
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Instrument Category
|
Electron Microscope
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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7
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| D2 PHASER 2nd generation X-ray Diffractometer | NTUST Precious Instrumentation Center | 廠牌及型號：BRUKER, D2 PHASER 2nd Generation- X-ray Powder Diffraction on a desktop
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本機特色：配備最新款偵測器”LYNXEYE XE-T”, 若樣品中含有非常高濃度鐵. 鈷. 鎳時, 此能量解析最高之線偵測器(< 380eV)可發揮有效之螢光壓抑效果，並獲得到超佳的S/N。
(備註:備註:若數據結果將用於以半高寬計算晶粒大小、絕對強度比較等，不建議第1、2代儀器交互使用，但相鑑定或相對強度比較應不受影響)
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規格：
1、 X光產生器：
(1) X光管(X-Ray Tube)：
使用銅靶做為陽極靶材，最大輸出功率至少達2.0kW。
(2) 高壓電源供應器：
最大輸出功率300W，最大輸出電壓30kV，最大輸出電流10mA。
2、 精密測角儀系統：
(1) 旋轉掃瞄範圍(2θ)：-3°~ 160°。
(2) 全範圍掃瞄精準度可達 ±0.02°。
(3) 掃描最小間距(2θ) ±0.02°。
(4) 測角儀為θ-θ設計，樣品台需可讓粉材或塊材樣品水平放置。
3、 光學元件：
(1) 入射光源：
準直器：2.5°或其他規格。
固定抽換式狹縫裝置。
(2) 特殊設計可調位置阻光刀, 提高高角及低角度範圍之信號雜訊比。
4、 X光偵測器：
(1) 為確保偵測信號之強度與掃描速度，偵測器具備多通道(channel)同時收集信號之功能，同時動作之偵測通道(channel)數目可達192個。
(2) 最高偵測強度至少可達108 cps，背景值至少小於0.1 cps。
(3) 在偵測鐵、鈷、鎳等元素，偵測器無需配備石墨單光器移除螢光效應所致之高背景值狀況。
(4) 容許靶材波長偵測範圍元素至少涵蓋鉻(Cr) ~ 銅(Cu)。
(5) 最大偵測角度可達5°或更大。
(6) 能量解析 < 380eV。
(7) 準直器：2.5°。
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Instrument Chinese Name
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【XRD004703】第二代 D2 PHASER X光繞射儀(適合粉末及塊材分析，含磁性鐵鈷鎳成分成效尤佳)
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【XRD004703】第二代 D2 PHASER X光繞射儀(適合粉末及塊材分析，含磁性鐵鈷鎳成分成效尤佳)
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Instrument English Name
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D2 PHASER 2nd generation X-ray Diffractometer
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Instrument Category
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X-Ray Diffractometer
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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8
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| D2 PHASER X-ray Diffractometer | NTUST Precious Instrumentation Center | 廠牌及型號：BRUKER, D2 PHASER 1st Generation- X-ray Powder Diffraction on a desktop
規格：
1、 X光產生器：
(1) X光管(X-Ray Tube)：
使用銅靶做為陽極靶材，最大輸出功率至少達2.0kW。
(2)高壓電源供應器：
最大輸出功率300W，最大輸出電壓30kV，最大輸出電流10mA。
2、 精密測角儀系統：
(1)旋轉掃瞄範圍(2θ)：-3°~ 160°。
(2)全範圍掃瞄精準度可達 ±0.02°。
(3)掃描最小間距(2θ) ±0.02°。
(4)測角儀為θ-θ設計，樣品台需可讓粉材或塊材樣品水平放置。
3、 光學元件：
(1)入射光源：
準直器：2.5°或其他規格。
固定抽換式狹縫裝置。
(2)特殊設計可調位置阻光刀, 提高高角及低角度範圍之信號雜訊比。
4、 X光偵測器：
(1)為確保偵測信號之強度與掃描速度，偵測器具備多通道(channel)同時收集信號之功能，同時動作之偵測通道(channel)數目可達192個。
(2)最高偵測強度至少可達108 cps，背景值至少小於0.1 cps。
(3) 容許靶材波長偵測範圍元素至少涵蓋鉻(Cr) ~ 銅(Cu)。
(4)最大偵測角度可達5°或更大。
(5)能量解析 < 1500eV。
(6)準直器：2.5°。
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Instrument Chinese Name
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【XRD004701】第一代 D2 PHASER X光繞射儀(適合粉末及塊材分析)
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【XRD004701】第一代 D2 PHASER X光繞射儀(適合粉末及塊材分析)
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Instrument English Name
|
D2 PHASER X-ray Diffractometer
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Instrument Category
|
X-Ray Diffractometer
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Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
|
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9
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| Field Emission Gun Transmission Electron Microscopy | NTUST Precious Instrumentation Center | 儀器設備說明：
規格：
(1)加速電壓： 200 KV
(2)TEM分辨率：
高解析影像條件 A. Point Resolution：≦0.23nm (200 kV)
B. Lattice Resolution：≦0.1nm
成份與結構分析條件 3 nm
(3) 能量分散光譜儀 (EDS)：
(i)機型: EDAX
(ii)元素偵測範圍: B ~ U (原子序 5~92)
(iii)解析度: 133 eV
(4) 雙傾斜試片座的最大傾斜角度：α±30˚、β±20˚
服務項目：
針對不同類型材料，提供高解析度的影像觀察及微區繞射分析，也可進行樣品成分分析。
微結構觀察: 明視野、暗視野影像分析；高解析影像分析。
電子繞射分析
元素定點定性及半定量成分分析。
EDS搭配STEM的HAADF偵測器同步獲取影像和光譜訊號可進行光譜元素全畫面(full frame)、選區(selected area)和線掃描(line scan)等掃描分析模式；本機台目前此分析功能，偶會受環境因素影響，使電子束不穩而有無法正常分析的情形，因非屬常態，故本情形僅提供擬預約使用時之參考，仍須視使用當日電子束穩定情況而定。 |
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Instrument Chinese Name
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【EM0000017500】場發射穿透式電子顯微鏡
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【EM0000017500】場發射穿透式電子顯微鏡
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Instrument English Name
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Field Emission Gun Transmission Electron Microscopy
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Instrument Category
|
Electron Microscope
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Instrument Status
|
服務(On Service)
|
Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
|
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10
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國立臺灣科技大學貴重儀器共用計畫
NTUST Precious Instrumentation Center
| High Power X-ray Diffractometer | NTUST Precious Instrumentation Center | 廠牌及型號：BRUKER, D8 DISCOVER SSS Multi Function High Power X-Ray Diffractometer
規格：
X-ray光源：銅靶 (Cu Kαλ= 0.154060 nm)。
測角儀系統: 2θ作動範圍(˚ ): -5.66983 ~ 177.386；
最小間距(˚ ):0.002；
停留時間範圍(s): 0.025~86400
主要附件：
平行X光導出裝置
平行X光繞射配件
開放式尤拉環
低背景矽晶圓樣品盤 |
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Instrument Chinese Name
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【XRD004700】高功率X光繞射儀(適合低掠角薄膜分析)
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【XRD004700】高功率X光繞射儀(適合低掠角薄膜分析)
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Instrument English Name
|
High Power X-ray Diffractometer
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Instrument Category
|
X-Ray Diffractometer
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Instrument Status
|
暫停服務(Service Paused)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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