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中原大學自有儀器共同使用計畫
Center of Expensive Instrument Administrative, CYCU
| JEOL JSM-7600F Ultra-High Resolution Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope with Oxford Xmax80 energy dispersive X-ray spectrometer | Center of Expensive Instrument Administrative, CYCU | SEM 廠牌:JEOL型號:JSM-7600F
EDS廠牌:Oxford Instruments 型號:Xmax80
1. 樣品需導電，不導電之樣品需經鍍碳、鍍金或鍍白金處理。
2. 樣品嚴禁含水氣及磁性物質。
3. 樣品呈塊狀，兩面必須平行，直徑最大30mm，最高1mm。
4. 初次使用者，樣品準備最好先和技術員討論。
5. 試片之製作由使用者自理。樣品需乾燥，在真空中無揮發性。
6. 試片在電子束照射下會分解、釋放氣體或成為液體之樣品，因有礙必要之真空維持，恕不受理。
7. 為避免浪費儀器資源，當天預約實驗開始時間超過半小時不到即取消預約，但需酌收2500元基本費。
8. 欲取消預約，請自行於實驗4天前上網取消，無取消代表須收取2500元基本費。(註:實驗3天前依然可進行網路預約，但不能取消)
9. 使用執行期限過期之計畫預約視同未預約，技術員將自行刪除，不行通知
10. 在備份檔案時請使用自行攜帶重複讀寫光碟，嚴禁使用隨身碟。
11. 基本費用收費於預約後未使用未取消者.其餘免另外收費
12. 寄樣品委測(委測者未到場之情況)一個時段(1hr)固定拍2個樣品，若多於2個樣品，請額外再多預約時段。
13.非計畫收費為計劃收費之2倍 |
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Instrument Chinese Name
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【EM023100】JEOL JSM-7600F 新穎奈米材料之超高解析場發射掃描式電子顯微鏡+Oxford Xmax80 能量散布分析儀
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【EM023100】JEOL JSM-7600F 新穎奈米材料之超高解析場發射掃描式電子顯微鏡+Oxford Xmax80 能量散布分析儀
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Instrument English Name
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JEOL JSM-7600F Ultra-High Resolution Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope with Oxford Xmax80 energy dispersive X-ray spectrometer
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Instrument Category
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Electron Microscope
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Instrument Status
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服務(On Service)
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Number of Reservations
(within a month)
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Number of Reservations(Internal):0
Number of Reservations(external):0
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Billing Trial Calculation
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