邱柏翰博士
服務簡介
本核心設施提供樣品高解析穿透式電子顯微鏡技術,Spectra 300 S/TEM是一款先進的掃描穿透式電子顯微鏡 (FEG S/TEM),擁有60~300千伏的加速電壓範圍。儀器完全封裝在一個外殼內,專門設計用於抑制環境中的聲波和溫度變化。透過球面像差校正技術,可獲得試片樣品的超高解析影像、晶格影像、以及成分分析。
Spectra 300 S/TEM 是最高解析影像和成分分析平台,憑藉其寬間隙和60-300 kV的加速電壓範圍,為學術研究團隊提供高品質的影像和成分分析。同時,它亦為先進的研發和損傷分析提供最廣泛的研究可能。應用範圍包括金屬塊材析出物、變形組織研究、薄膜材料成分及厚度計算、相鑑定及成分分析等,提供高解析影像及成分報告。
Spectra 300 S/TEM不僅利用高解析掃描穿透式電子顯微鏡原子尺度成像功能,且提供材料在高解析影像上的成分分析。本核心設施的目標是建構Spectra 300 S/TEM電子顯微鏡之高解析影像與成分觀察,提供創新研究發展檢測平台。
服務內容
網頁資訊: https://www.hic.ch.ntu.edu.tw/TEM%E5%B7%A5/em4-02.html
聯絡資訊
楊哲人 教授
邱柏翰 博士
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