臺科大 北科大 北醫 臺大 臺師大 中原 清大 陽明交大 中央 中興 東海 逢甲 勤益 雲科大 中正 成大 高醫 中山 屏科大 東華
國立臺灣師範大學貴重儀器使用中心
National Taiwan Normal University Instrumentation Center
國立陽明交通大學儀器資源中心
National Yang Ming Chiao Tung Univ. Instrumentation Resource Center
國立清華大學貴重儀器使用中心
Instrumentation Center at NTHU
國立臺灣大學貴重儀器中心
Instrumentation Center at NTU
國立中山大學貴重暨共用儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
國立成功大學核心設施中心
Core Facility Center, National Cheng Kung University
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
國立中央大學貴重儀器使用中心
Precious Instrument Utilization Center at NCU
電子微探儀-真空鍍碳機
EPMA-Carbon coating
快速退火系統
RTA
掃描式電子顯微鏡
SEM
高解析多功能薄膜Ｘ光分析儀
High Resolution X-Ray Diffraction
超高解析冷槍場放射型掃描式(Hitachi SU8220)
UHR CFE-SEM Hitachi SU8220
熱分析設備--熱重分析及差示熱分析儀
TGA/DSC
熱場發射掃描式電子顯微鏡-工
FESEM
奈米壓痕機
Nano-Indenter
高解像能電子顯微鏡(具A級及B級執照)
HRTEM
液態核磁共挀儀
LNMR 500
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
電子順磁共振光譜儀
EPR
高解像能電子顯微鏡
HRTEM
超高解析掃描式電顯穿透影像設備(SU8220 STEM)
Hitachi SU8220-TE detecting device
高解析度探針顯微鏡
Atom force microscopy
600 MHz 固態核磁共振光譜儀
600 MHz Solid-State NMR
超高磁場核磁共振儀(700MHz)
VARIAN 700 NMR
多功能高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
High-Resolution Scanning Electron Microscope
超導核磁共振儀500 MHz
Varian-Unity INOVA-500 MHz
X光生物巨分子單晶繞射儀
Macromolucular Crystallographic Instrument (MSC/Rigaku RU-H3R)
多功能聚焦離子束系統
Focused Ion Beam System(FIB)
固態核磁共振光譜儀
Bruker Avance III HD Solid State NMR
冷場發掃描式電子顯微鏡
FE-SEM ( HITACHI Regulus-8100 )
雙鎗型離子束顯微鏡（FIB）
Dual beam Focus Ion Beam System （FIB）
電子順磁共振光譜儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
倒立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Inverted confocal microscope LSM-800
液相層析串聯質譜儀
Liquid Chromatograph-Tandem Mass Spectrometer
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM(JEOL-JSM7610F)
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
超導量子干涉磁化儀
SQUID VSM
高解析度螢光影像流式細胞儀
ImageStreamX Mark II
高功率X光繞射儀
XRD
電子游離-雙聚焦磁場式質譜儀
EI-Magnetic Sector
雷射直寫光罩
MASK MLA150
化學分析電子光譜儀--xps
XPS(ESCA)
新型雙模式雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP5
Leica TCS SP5 Confocal Microscope
熱場發射掃描式電子顯微鏡(農)
Thermal FESEM (JSM-7800F)
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
XPS/AES
原子層沉積系統
ALD
分析型場發掃描式電子顯微鏡
AFE-SEM
薄膜特性分析儀
N&K
三維顯微拉曼光譜影像系統
3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer
FEG-TEM Tecnai F20 場發射穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM（Tecnai F20 G2 STEM）
X光粉末繞射儀
X-ray Powder Diffractometer
化學分析電子能譜儀
ESCA
物理性質量測系統儀
Physical Property Measurement System
化學分析電子能譜儀(自行操作)--晚上時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
場發射穿透式電子顯微鏡
FETEM
導電性材料活性離子蝕刻機（Deep-Si RIE HDP-
Reactive Ion Etcher ( Deep-Si RIE . HDP-RIE ）
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡
Talos F200X G2
X 射線光電子能譜儀
X-ray Photoelectron Sperctroscopy
單晶X-光繞射儀
SCXRD
感應耦合電漿放射光譜儀
ICP-OES
雙電子槍蒸鍍機
Ebeam
多功能原子力顯微鏡
Atomic force microscopy
多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
EFE-SEM
正立LSM-800 with Airyscan
Upright confocal microscope LSM 800 with Airyscan
高解析Orbitrap質譜儀
CE/LC-MS
軟物質穿透式電子顯微鏡
Soft matter TEM
高解析度穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
低壓化學氣相沉積系統
Low Pressure Chemical Vapor Deposition System
高階三束型聚焦離子束顯微鏡
Focused Ion and Electron Beam System
二次離子質譜儀
TOF -SIMS
化學分析電子光譜儀-ESCA(XPS)
XPS---Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
高解析感應耦合電漿質譜分析儀
HR-ICPMS
X射線光電子能譜儀
X-Ray Photoelectron Spectroscopy
高密度電漿化學氣相沉積系統
CVD
全自動數位穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
軌道阱高解析質譜儀
Orbitrap
600 MHz 核磁共振儀
600 MHz NMR Sectroscopy Analysis System
場發射槍穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM
穿透式電子顯微鏡
Transmission Electron Microscope
高解析液相層析串聯質譜儀
High Resolution Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
高解析電子能譜儀
HRXPS
變溫探針顯微鏡
Atom force microscopy
理學院一般型/ 高解析G2/T12 穿透式電子顯微鏡
Hitachi H-7100 / FEI Tecnai G2/ FEI Tecnai T12
高解析X光繞射儀
HR-XRD
穿透式電子顯微鏡
JEOL JEM-2010 ELECTRON MICROSCOPE
高解析電子微探儀
Field Emission Electron Probe Microanalyzer JEOL JXA 8530F
活細胞即時影像系統
Live cell imaging system
圖形產生系統
Pattern Generator
X射線光電子能譜儀
XPS
氬離子切割研磨機含空氣阻斷配件
Ion Milling with Cooling control unit and Air Protection System
電子順磁共振光譜儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
共軛焦光學分析系統(專案研究)
Confocal Optical Analysis System
500MHz 核磁共振儀
500MHz NMR
成大貴儀 低掠角薄膜 X 光繞射儀
成大貴儀 Grazing incidence X-ray Diffractometer
理學院T12 120keV穿透式電子顯微鏡(T12 TEM)
FEI T12 TEM
化學分析電子能譜儀(委託操作)
Electron Spectrocopy for Chemical Analysis
場發射掃描式電子顯微鏡
SEM ZEISS ∑IGMA Essential
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(委託操作)
AES/ESCA(Client service)
電子順磁共振儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
高對比穿透式電子顯微鏡
HC-TEM
氦液化系統
PSI Model 1610 Helium Liquefier System
X 光單晶繞射儀
Single Crystal X-Ray Diffractometer
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM+EDS/WDS system
核磁共振儀(600, 500 及 300 MHz),共三台
Nuclear Magnetic Resonance
白光雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP8 X
Leica TCS SP8 X Confocal Microscope
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(委託服務)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
三五族分子束磊晶系統
III-V Molecular Beam Epitaxy System
Bruker AVIII-800 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-800 MHz NMR
穿透式及反射式小角度X-ray散射系統
Transmission/grazing-incidence small-angle X-ray scattering
600MHz 核磁共振儀( JEOL ECZ-600R)
JEOL ECZ-600R 600MHz NMR
共軛焦光譜顯微影像系統及活細胞即時影像系統
Confocal Spectral Microscope Imaging System and Live Cell Imaging Syst
化學分析電子能譜儀
Electron spectroscopy for chemical analysis
超導量子干涉儀
Superconducting quantum interference device
高能量化學分析電子能譜儀
ESCA, XPS, HAXPES
高解析掃描式電子顯微鏡 (Hitachi S-4800)
Cold-field emission Scanning Electron Microscope (Hitachi S-4800)
全內反射螢光顯微鏡
TIRF
氦液化系統
Helium liquefaction system
流式細胞分選儀
BD FACSAria III sorter
感應耦合電漿質譜分析儀
ICP-MS
真空濺鍍系統(A)
Sputter(A)
場發射型掃描式電子顯微鏡
Field-Emission Scanning Electron Microscope
JEOL 3010 TEM穿透式電子顯微鏡
JEOL 3010 Analytical Scanning Transmission Electron Microscope
場發射掃描式電子顯微鏡(高解析SEM附EDS)
Field Emission Scanning Electron Microscope
原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
AFM(Scanning Probe Microscope System)
高解析穿透式電子顯微鏡
HR-TEM
線性離子阱-軌道阱質譜儀
LTQ
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
High resolution thermal field emission scanning electron microscope
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
高磁場核磁共振儀 (500MHz)
Bruker AVANCE 500 MHz NMR
反射式小角度X-ray散射系統
GISAXS
核磁共振儀
Bruker 600MHz
掃描探針顯微鏡(委託操作)
Scanning Probe Microscopy
光學微影系統
MASK ALIGNER
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀
SEM & EBSD
場發射穿透式電子顯微鏡
FE-TEM
600 MHz NMR核磁共振儀
600 MHz NMR
多靶磁控濺鍍系統
Sputter
LNMR600
LNMR600
成大貴儀 高溫二維X-ray 廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
前瞻聚焦離子束系統
Advanced focused ion beam system
超高解析質譜儀(ESI & MALDI)
Ultra High Resolution Mass Spectrometry
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
穿透式小角度X-ray散射系統
SAXS
單晶X光繞射儀
SC-XRD
高解析氣相層析飛行質譜儀
High Resolution TOF- Mass spectrometer
真空濺鍍系統(B)
Sputter(B)
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡系統
CFE-SEM
軟物質分析穿透式電子顯微鏡
JEOL JEM-2100 ELECTRON MICROSCOPE
霍氏轉換紅外光譜儀
FTIR
NCHS-元素分析
elemental analysis for NCSH
超導量子干涉元件磁量儀
SQUID
場發射電子微探儀
FE-EPMA
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡
Ultra-High Resolution FE-SEM
多功能 X 光 繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
成大貴儀 高溫二維X-ray廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
熱場發射式電子顯微鏡及能量頻譜分析儀
JSM-7100F Scanning Electron Microscopy
共軛焦顯微鏡系統-正立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Upright confocal microscope LSM-800
化學分析電子能譜儀
ESCA/XPS
基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
MALDI-TOF/MS
高解析氣相層析質譜儀
AccuTOF GCX HRMS
低溫陰極螢光分析系統(暨SEM/EDS)
Crygenic Cathodoluminescence system
高解析液相層析串聯質譜儀
Compact Q/TOF LC-MS System
冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器
Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) & En
超導量子干涉磁量儀
Superconductor Quantum Interference Device(SQUID)
理學院穿透式電子顯微鏡
Hitachi H-7100 TEM
二次離子質譜儀-銫離子源
SIMS-Cs SOURCE
熱分析設備
TA
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(自行操作)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
聚焦離子束與電子束顯微系統
Dual beam(focused ion beam & electron beam)System
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
ARM
雷射共軛焦顯微鏡
Confocal Microscope
場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F
高解析掃描穿透式電子顯微鏡
High Resolution STEM
電子顯微鏡（積學館）-離子束與高解析掃描式電子顯微鏡
FIB/FE-SEM
場發射電子微探儀
High Resolution Hyper Probe
拉曼光譜儀
RS
高解析低溫電子自旋共振儀
EPR
AVIII HD 700MHz 高磁場超導核磁共振儀
Superconducting FT NMR Spectrometer AVANCE III HD 700 MHz
場發射掃描式電子顯微鏡
Filed emission scanning electronic microscope
冷場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM
共軛焦顯微鏡系統
Confocal microscopic system
超導核磁共振儀
Agilent Technologies 600MHz NMR DD2
超導量子干涉儀
SQUID
場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
FES/TEM
NCHS元素分析儀
Elemental analysis: Elementar vario EL cube-CHNS & O
300 MHz NMR核磁共振儀
300 MHz NMR
振動光譜顯影系統
Vibrational Spectroscopic Imaging system
電漿輔助化學氣相沉積系統(PECVD)
Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD)
微波及亳米波通道量測訊號合成及分析儀
Microwave and millimeterwave signal generator and analyzer for channel
電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡
Electron Microscope- FE-TEM
桌上型暨可變真空掃描式電子顯微鏡
Table-top Microscope (TM3000)/ Hitachi FlexSEM1000 II
高通量顯微影像擷取暨分析系統
High Content Micro-Imaging Acquisition and Screening System
多光子共軛焦顯微系統(MCMS)
Multiphoton and Confocal Microscope System
光罩製作系統(圖形產生系統)
Pattern Generator
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D HR FIB System
元素分析儀
Elemental Analyzer
高強度多功能X光薄膜微區繞射儀
Multipurpose High intensity XRD
理學院掃描式電子顯微鏡
Scanning Electron Microscope
氧化擴散系統
Oxidation & Diffusion furnaces
感應耦合式電漿蝕刻系統
ICP
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
AES/ESCA
流式細胞分選儀
Fluorescence-activated cell sorter
穿透式電子顯微鏡
TEM
光罩對準曝光機
Aligner
Orbitrap Fusion Lumos複合式質譜儀
Orbitrap Fusion Lumos
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
介電性材料活性離子蝕刻系統
Die-electric Material RIE 400iP
化學分析電子能譜儀(自行操作)--白天時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
歐傑電子能譜儀
Auger Electron Spectroscopy
活體冷螢光影像暨分子影像系統(IVIS&MRI)
IVIS Luminar II in vivo imaging system (now under PerkinElmer) & Aspec
元素分析儀
Elemental analyzer (Elementar vario EL cube)
粉末繞射儀
Powder X-ray Diffractometer
XPS
XPS
加速器質譜儀碳十四定年
AMS Radiocarbon dating
雷射掃描共軛焦顯微鏡系統
Zeiss LSM880 with airyscan
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D FIB
掃描探針顯微鏡(自行操作)
Scanning Probe Microscopy
高效能可變溫多功能X 光繞射儀
High performance low temperature and multi-function XRD
高解像能電子顯微鏡(委託服務)
JEOL JEM-F200
理學院高解析穿透式電子顯微鏡 (HR-TEM)
FEI Tecnai G2 (200kV)(LaB6)
共軛焦光學分析系統(委託操作)
Confocal Optical Analysis System
Bruker D8 Venture雙靶單晶繞射儀
Bruker D8 Venture (DUO)
熱蒸鍍系統
Thermal-Evaporation Deposition System
二次離子質譜儀-氧離子源
SIMS-O2 SOURCE
自行操作-晚上時段
AES/ESCA-Self operation(night)
多功能X光繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
500 MHz NMR核磁共振儀
500 MHz NMR
高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡
High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope
雙球差場發300kV掃描穿透式電子顯微鏡
Thermo Fisher Spectra 300 FEG-S/TEM
成大貴儀 小角度 X 光散射儀
成大貴儀 Small angle X-ray scattering
Bruker AVIII-500 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-500MHz FT-NMR
自行操作-白天時段
AES/ESCA-Self operation(Day)
X光單晶繞射儀
SXRD