基礎研究核心設施中心分布圖，可選擇學校查詢儀器 臺科大 臺大 臺師大 中央 清大 陽明交大 中興 東海 逢甲 雲科大 中正 成大 中山 高醫 東華
國立中山大學貴重暨共用儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
國立臺灣大學貴重儀器中心
Instrumentation Center at NTU
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
國立陽明交通大學儀器資源中心
National Yang Ming Chiao Tung Univ. Instrumentation Resource Center
國立中央大學研究核心設施中心
Precious Instrument Utilization Center at NCU
國立清華大學貴重儀器使用中心
Instrumentation Center at NTHU
國立臺灣師範大學貴重儀器使用中心
Advanced Instrumentation Center, National Taiwan Normal University
國立成功大學核心設施中心
Core Facility Center, National Cheng Kung University
理學院T12 120keV穿透式電子顯微鏡(T12 TEM)
理學院T12 120keV穿透式電子顯微鏡(T12 TEM)
FEI T12 TEM
高解析Orbitrap質譜儀
高解析Orbitrap質譜儀
CE/LC-MS
500MHz 核磁共振儀
500MHz 核磁共振儀
500MHz NMR
成大貴儀 高溫二維X-ray 廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 高溫二維X-ray 廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
化學分析電子光譜儀--xps
化學分析電子光譜儀--xps
XPS(ESCA)
正立LSM-800 with Airyscan
正立LSM-800 with Airyscan
Upright confocal microscope LSM 800 with Airyscan
高真空鍍膜系統
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
超導核磁共振儀500 MHz
超導核磁共振儀500 MHz
Varian-Unity INOVA-500 MHz
奈米壓痕機
奈米壓痕機
Nano-Indenter
場發射型掃描式電子顯微鏡
場發射型掃描式電子顯微鏡
Field-Emission Scanning Electron Microscope
電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡
電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡
Electron Microscope- FE-TEM
高磁場核磁共振儀 (500MHz)
高磁場核磁共振儀 (500MHz)
Bruker AVANCE 500 MHz NMR
X 光單晶繞射儀
X 光單晶繞射儀
Single Crystal X-Ray Diffractometer
感應耦合式電漿蝕刻系統
感應耦合式電漿蝕刻系統
ICP
超導量子干涉儀
超導量子干涉儀
Superconducting quantum interference device
氦液化系統
氦液化系統
Helium liquefaction system
自行操作-晚上時段
自行操作-晚上時段
AES/ESCA-Self operation(night)
場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
FES/TEM
高解像能電子顯微鏡
高解像能電子顯微鏡
HRTEM
共軛焦光學分析系統(委託操作)
共軛焦光學分析系統(委託操作)
Confocal Optical Analysis System
高解析感應耦合電漿質譜分析儀
高解析感應耦合電漿質譜分析儀
HR-ICPMS
聚焦離子束顯微鏡
聚焦離子束顯微鏡
FIB
場發射穿透式電子顯微鏡
場發射穿透式電子顯微鏡
FETEM
單晶X光繞射儀
單晶X光繞射儀
SC-XRD
加速器質譜儀
加速器質譜儀
AMS
真空濺鍍系統(A)
真空濺鍍系統(A)
Sputter(A)
多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
EFE-SEM
場發射掃描式電子顯微鏡(高解析SEM附EDS)
場發射掃描式電子顯微鏡(高解析SEM附EDS)
Field Emission Scanning Electron Microscope
化學分析電子能譜儀
化學分析電子能譜儀
Electron spectroscopy for chemical analysis
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀
XPS
電漿輔助化學氣相沉積系統(PECVD)
電漿輔助化學氣相沉積系統(PECVD)
Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD)
氬離子切割研磨機含空氣阻斷配件
氬離子切割研磨機含空氣阻斷配件
Ion Milling with Cooling control unit and Air Protection System
化學分析電子能譜儀(自行操作)--晚上時段
化學分析電子能譜儀(自行操作)--晚上時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
AFM(Scanning Probe Microscope System)
X 射線光電子能譜儀
X 射線光電子能譜儀
X-ray Photoelectron Sperctroscopy
霍氏轉換紅外光譜儀
霍氏轉換紅外光譜儀
FTIR
成大貴儀 高溫二維X-ray廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 高溫二維X-ray廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
白光雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP8 X
白光雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP8 X
Leica TCS SP8 X Confocal Microscope
高解析質譜儀
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
電子順磁共振光譜儀
電子順磁共振光譜儀
EPR
場發射電子微探儀
場發射電子微探儀
FE-EPMA
高效能可變溫多功能X 光繞射儀
高效能可變溫多功能X 光繞射儀
High performance low temperature and multi-function XRD
高解析氣相層析飛行質譜儀
高解析氣相層析飛行質譜儀
High Resolution TOF- Mass spectrometer
高階三束型聚焦離子束顯微鏡
高階三束型聚焦離子束顯微鏡
Focused Ion and Electron Beam System
Bruker AVIII-800 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-800 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-800 MHz NMR
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
AES/ESCA
核磁共振影像/光譜儀
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
介電性材料活性離子蝕刻系統
介電性材料活性離子蝕刻系統
Die-electric Material RIE 400iP
化學分析電子光譜儀-ESCA(XPS)
化學分析電子光譜儀-ESCA(XPS)
XPS---Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
超導量子干涉元件磁量儀
超導量子干涉元件磁量儀
SQUID
固態核磁共振光譜儀
固態核磁共振光譜儀
Bruker Avance III HD Solid State NMR
高真空鍍膜系統
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
MALDI-TOF/MS
低壓化學氣相沉積系統
低壓化學氣相沉積系統
Low Pressure Chemical Vapor Deposition System
多靶磁控濺鍍系統
多靶磁控濺鍍系統
Sputter
冷場發射掃描式電子顯微鏡
冷場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM
超高磁場核磁共振儀(700MHz)
超高磁場核磁共振儀(700MHz)
VARIAN 700 NMR
原子層沉積系統
原子層沉積系統
ALD
薄膜特性分析儀
薄膜特性分析儀
N&K
Spectra 300 雙 Cs 校正電子顯微鏡
Spectra 300 雙 Cs 校正電子顯微鏡
Spectra 300 Double Cs-Corrected 300 kV S/TEM
前瞻聚焦離子束系統
前瞻聚焦離子束系統
Advanced focused ion beam system
超導量子干涉磁化儀
超導量子干涉磁化儀
SQUID VSM
全內反射螢光顯微鏡
全內反射螢光顯微鏡
TIRF
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(委託服務)
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(委託服務)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
高解析度穿透式電子顯微鏡
高解析度穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
熱場發射掃描式電子顯微鏡(農)
熱場發射掃描式電子顯微鏡(農)
Thermal FESEM (JSM-7800F)
高解析氣相層析質譜儀
高解析氣相層析質譜儀
AccuTOF GCX HRMS
歐傑電子能譜儀
歐傑電子能譜儀
Auger Electron Spectroscopy
XPS
XPS
XPS
三維顯微拉曼光譜影像系統
三維顯微拉曼光譜影像系統
3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer
反射式小角度X-ray散射系統
反射式小角度X-ray散射系統
GISAXS
液態核磁共挀儀
液態核磁共挀儀
LNMR 500
自行操作-白天時段
自行操作-白天時段
AES/ESCA-Self operation(Day)
導電性材料活性離子蝕刻機（Deep-Si RIE HDP-
導電性材料活性離子蝕刻機（Deep-Si RIE HDP-
Reactive Ion Etcher ( Deep-Si RIE . HDP-RIE ）
高性能液相層析串聯質譜儀
高性能液相層析串聯質譜儀
HPLC/MS/MS
聚焦離子束與電子束顯微系統
聚焦離子束與電子束顯微系統
Dual beam(focused ion beam & electron beam)System
化學分析電子能譜儀(委託操作)
化學分析電子能譜儀(委託操作)
Electron Spectrocopy for Chemical Analysis
熱蒸鍍系統
熱蒸鍍系統
Thermal-Evaporation Deposition System
超高解析質譜儀(ESI & MALDI)
超高解析質譜儀(ESI & MALDI)
Ultra High Resolution Mass Spectrometry
物理性質量測系統儀
物理性質量測系統儀
Physical Property Measurement System
高解析多功能薄膜Ｘ光分析儀
高解析多功能薄膜Ｘ光分析儀
High Resolution X-Ray Diffraction
400MHz 核磁共振儀
400MHz 核磁共振儀
400MHz Nuclaer Magnetic Resonance 
共軛焦光學分析系統(專案研究)
共軛焦光學分析系統(專案研究)
Confocal Optical Analysis System
粉末繞射儀
粉末繞射儀
Powder X-ray Diffractometer
穿透式及反射式小角度X-ray散射系統
穿透式及反射式小角度X-ray散射系統
Transmission/grazing-incidence small-angle X-ray scattering
高解析電子微探儀
高解析電子微探儀
Field Emission Electron Probe Microanalyzer JEOL JXA 8530F
超導核磁共振儀
超導核磁共振儀
Agilent Technologies 600MHz NMR DD2
光罩對準曝光機
光罩對準曝光機
Aligner
LNMR600
LNMR600
LNMR600
多功能高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
多功能高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
High-Resolution Scanning Electron Microscope
倒立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
倒立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Inverted confocal microscope LSM-800
二次離子質譜儀
二次離子質譜儀
TOF -SIMS
多功能X光繞射儀
多功能X光繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(委託操作)
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(委託操作)
AES/ESCA(Client service)
真空快速升溫退火系統
真空快速升溫退火系統
真空快速升溫退火系統
X光粉末繞射儀
X光粉末繞射儀
X-ray Powder Diffractometer
化學分析電子能譜儀(自行操作)--白天時段
化學分析電子能譜儀(自行操作)--白天時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡
Ultra-High Resolution FE-SEM
化學分析電子能譜儀
化學分析電子能譜儀
ESCA/XPS
X光單晶繞射儀
X光單晶繞射儀
SXRD
高解析液相層析串聯質譜儀
高解析液相層析串聯質譜儀
High Resolution Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer
NCHS-元素分析
NCHS-元素分析
elemental analysis for NCSH
Orbitrap Fusion Lumos複合式質譜儀
Orbitrap Fusion Lumos複合式質譜儀
Orbitrap Fusion Lumos
600MHz 核磁共振儀( JEOL ECZ-600R)
600MHz 核磁共振儀( JEOL ECZ-600R)
JEOL ECZ-600R 600MHz NMR
軟物質分析穿透式電子顯微鏡
軟物質分析穿透式電子顯微鏡
JEOL JEM-2100 ELECTRON MICROSCOPE
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D FIB
多功能聚焦離子束系統
多功能聚焦離子束系統
Focused Ion Beam System(FIB)
電子順磁共振光譜儀
電子順磁共振光譜儀
EPR
場發射穿透式電子顯微鏡
場發射穿透式電子顯微鏡
FE-TEM
電子顯微鏡（積學館）-離子束與高解析掃描式電子顯微鏡
電子顯微鏡（積學館）-離子束與高解析掃描式電子顯微鏡
FIB/FE-SEM
高解像能電子顯微鏡(委託服務)
高解像能電子顯微鏡(委託服務)
JEOL JEM-F200
高對比穿透式電子顯微鏡
高對比穿透式電子顯微鏡
HC-TEM
掃描探針顯微鏡(自行操作)
掃描探針顯微鏡(自行操作)
Scanning Probe Microscopy
真空濺鍍系統(B)
真空濺鍍系統(B)
Sputter(B)
流式細胞分選儀
流式細胞分選儀
BD FACSAria III sorter
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡系統
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡系統
CFE-SEM
超高解析冷槍場放射型掃描式(Hitachi SU8220)
超高解析冷槍場放射型掃描式(Hitachi SU8220)
UHR CFE-SEM Hitachi SU8220
超導量子干涉磁量儀
超導量子干涉磁量儀
Superconductor Quantum Interference Device(SQUID)
核磁共振影像/光譜儀
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
液相層析串聯質譜儀
液相層析串聯質譜儀
Liquid Chromatograph-Tandem Mass Spectrometer
電子游離-雙聚焦磁場式質譜儀
電子游離-雙聚焦磁場式質譜儀
EI-Magnetic Sector
熱分析設備--熱重分析及差示熱分析儀
熱分析設備--熱重分析及差示熱分析儀
TGA/DSC
高解析低溫電子自旋共振儀
高解析低溫電子自旋共振儀
EPR
桌上型暨可變真空掃描式電子顯微鏡
桌上型暨可變真空掃描式電子顯微鏡
Table-top Microscope (TM3000)/ Hitachi FlexSEM1000 II
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(自行操作)
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(自行操作)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
高解析X光繞射儀
高解析X光繞射儀
HR-XRD
熱場發射掃描式電子顯微鏡-工
熱場發射掃描式電子顯微鏡-工
FESEM
600 MHz 核磁共振儀
600 MHz 核磁共振儀
600 MHz NMR Spectroscopy Analysis System
Bruker AVIII-500 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-500 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-500MHz FT-NMR
Bruker D8 Venture雙靶單晶繞射儀
Bruker D8 Venture雙靶單晶繞射儀
Bruker D8 Venture (DUO)
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
XPS/AES
分析型場發掃描式電子顯微鏡
分析型場發掃描式電子顯微鏡
AFE-SEM
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
熱分析設備
熱分析設備
TA
掃描探針顯微鏡(委託操作)
掃描探針顯微鏡(委託操作)
Scanning Probe Microscopy
全自動數位穿透式電子顯微鏡
全自動數位穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
二次離子質譜儀-氧離子源
二次離子質譜儀-氧離子源
SIMS-O2 SOURCE
元素分析儀
元素分析儀
Elemental analyzer (Elementar vario EL cube)
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
ARM
振動光譜顯影系統
振動光譜顯影系統
Vibrational Spectroscopic Imaging system
NCHS元素分析儀
NCHS元素分析儀
Elemental analysis: Elementar vario EL cube-CHNS & O
高解像能電子顯微鏡
高解像能電子顯微鏡
HRTEM
雷射直寫光罩
雷射直寫光罩
MASK MLA150
場發射槍穿透式電子顯微鏡
場發射槍穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM
冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器
冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器
Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) & En
三五族分子束磊晶系統
三五族分子束磊晶系統
III-V Molecular Beam Epitaxy System
多功能原子力顯微鏡
多功能原子力顯微鏡
Atomic force microscopy
元素分析儀
元素分析儀
Elemental Analyzer
單晶X-光繞射儀
單晶X-光繞射儀
SCXRD
理學院一般型/ 高解析G2/T12 穿透式電子顯微鏡
理學院一般型/ 高解析G2/T12 穿透式電子顯微鏡
Hitachi H-7100 / FEI Tecnai G2/ FEI Tecnai T12
場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F
高解析穿透式電子顯微鏡
高解析穿透式電子顯微鏡
HR-TEM
FEG-TEM Tecnai F20 場發射穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM Tecnai F20 場發射穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM（Tecnai F20 G2 STEM）
光學微影系統
光學微影系統
MASK ALIGNER
多功能 X 光 繞射儀
多功能 X 光 繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
高解析質譜儀
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
穿透式小角度X-ray散射系統
穿透式小角度X-ray散射系統
SAXS
光罩製作系統(圖形產生系統)
光罩製作系統(圖形產生系統)
Pattern Generator
理學院掃描式電子顯微鏡
理學院掃描式電子顯微鏡
Scanning Electron Microscope
高解析掃描式電子顯微鏡 (Hitachi S-4800)
高解析掃描式電子顯微鏡 (Hitachi S-4800)
Cold-field emission Scanning Electron Microscope (Hitachi S-4800)
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
600 MHz 固態核磁共振光譜儀
600 MHz 固態核磁共振光譜儀
600 MHz Solid-State NMR
超解析時脈頻譜共軛焦顯微鏡
超解析時脈頻譜共軛焦顯微鏡
Leica STELLARIS Confocal
成大貴儀 低掠角薄膜 X 光繞射儀
成大貴儀 低掠角薄膜 X 光繞射儀
成大貴儀 Grazing incidence X-ray Diffractometer
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡
Talos F200X G2
感應耦合電漿質譜儀
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
CL
CL
CL
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
High resolution thermal field emission scanning electron microscope
軌道阱高解析質譜儀
軌道阱高解析質譜儀
Orbitrap
高強度多功能X光薄膜微區繞射儀
高強度多功能X光薄膜微區繞射儀
Multipurpose High intensity XRD
電子順磁共振儀
電子順磁共振儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
X光生物巨分子單晶繞射儀
X光生物巨分子單晶繞射儀
Macromolucular Crystallographic Instrument (MSC/Rigaku RU-H3R)
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D HR FIB System
穿透式電子顯微鏡
穿透式電子顯微鏡
Transmission Electron Microscope
超導量子干涉儀
超導量子干涉儀
SQUID
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM+EDS/WDS system
雙鎗型離子束顯微鏡（FIB）
雙鎗型離子束顯微鏡（FIB）
Dual beam Focus Ion Beam System （FIB）
場發射電子微探儀
場發射電子微探儀
High Resolution Hyper Probe
超高解析掃描式電顯穿透影像設備(SU8220 STEM)
超高解析掃描式電顯穿透影像設備(SU8220 STEM)
Hitachi SU8220-TE detecting device
高解像能電子顯微鏡(具A級及B級執照)
高解像能電子顯微鏡(具A級及B級執照)
HRTEM
感應耦合電漿放射光譜儀
感應耦合電漿放射光譜儀
ICP-OES
氧化擴散系統
氧化擴散系統
Oxidation & Diffusion furnaces
高能量化學分析電子能譜儀
高能量化學分析電子能譜儀
ESCA, XPS, HAXPES
共軛焦顯微鏡系統-正立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
共軛焦顯微鏡系統-正立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Upright confocal microscope LSM-800
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀
SEM & EBSD
雙電子槍蒸鍍機
雙電子槍蒸鍍機
Ebeam
高密度電漿化學氣相沉積系統
高密度電漿化學氣相沉積系統
CVD
穿透式電子顯微鏡
穿透式電子顯微鏡
TEM
高解析電子能譜儀
高解析電子能譜儀
HRXPS
感應耦合電漿質譜儀
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
雷射共軛焦顯微鏡
雷射共軛焦顯微鏡
Confocal Microscope
超導量子干涉磁量儀
超導量子干涉磁量儀
Magnetic Property Measurement System MPMS3 Quantum Design Inc.
感應耦合電漿質譜分析儀
感應耦合電漿質譜分析儀
ICP-MS
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
圖形產生系統
圖形產生系統
Pattern Generator
高解析掃描穿透式電子顯微鏡
高解析掃描穿透式電子顯微鏡
High Resolution STEM
高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡
高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡
High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope
共軛焦顯微鏡系統
共軛焦顯微鏡系統
Confocal microscopic system
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀
X-Ray Photoelectron Spectroscopy
電子微探儀-真空鍍碳機
電子微探儀-真空鍍碳機
EPMA-Carbon coating
新型雙模式雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP5
新型雙模式雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP5
Leica TCS SP5 Confocal Microscope
二次離子質譜儀-銫離子源
二次離子質譜儀-銫離子源
SIMS-Cs SOURCE