基礎研究核心設施中心分布圖，可選擇學校查詢儀器 臺科大 臺大 臺師大 中央 清大 陽明交大 中興 東海 逢甲 雲科大 中正 成大 中山 高醫 東華
國立臺灣師範大學貴重儀器使用中心
Advanced Instrumentation Center, National Taiwan Normal University
國立臺灣大學貴重儀器中心
Instrumentation Center at NTU
國立中山大學貴重暨共用儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
國立清華大學貴重儀器中心
Instrumentation Center at NTHU
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
國立中央大學研究核心設施中心
Precious Instrument Utilization Center at NCU
國立陽明交通大學儀器資源中心
National Yang Ming Chiao Tung Univ. Instrumentation Resource Center
國立成功大學核心設施中心
Core Facility Center, National Cheng Kung University
熱分析設備
熱分析設備
TA
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
ARM
高解析電子微探儀
高解析電子微探儀
Field Emission Electron Probe Microanalyzer JEOL JXA 8530F
三五族分子束磊晶系統
三五族分子束磊晶系統
III-V Molecular Beam Epitaxy System
化學分析電子光譜儀--xps
化學分析電子光譜儀--xps
XPS(ESCA)
穿透式及反射式小角度X-ray散射系統
穿透式及反射式小角度X-ray散射系統
Transmission/grazing-incidence small-angle X-ray scattering
基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
MALDI-TOF/MS
霍氏轉換紅外光譜儀
霍氏轉換紅外光譜儀
FTIR
振動光譜顯影系統
振動光譜顯影系統
Vibrational Spectroscopic Imaging system
電子順磁共振儀
電子順磁共振儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
高解析多功能薄膜Ｘ光分析儀
高解析多功能薄膜Ｘ光分析儀
High Resolution X-Ray Diffraction
600MHz 核磁共振儀( JEOL ECZ-600R)
600MHz 核磁共振儀( JEOL ECZ-600R)
JEOL ECZ-600R 600MHz NMR
軟物質分析穿透式電子顯微鏡
軟物質分析穿透式電子顯微鏡
JEOL JEM-2100 ELECTRON MICROSCOPE
氬離子切割研磨機含空氣阻斷配件
氬離子切割研磨機含空氣阻斷配件
Ion Milling with Cooling control unit and Air Protection System
多功能聚焦離子束系統
多功能聚焦離子束系統
Focused Ion Beam System(FIB)
核磁共振影像/光譜儀
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
理學院T12 120keV穿透式電子顯微鏡(T12 TEM)
理學院T12 120keV穿透式電子顯微鏡(T12 TEM)
FEI T12 TEM
高真空鍍膜系統
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
高解析穿透式電子顯微鏡
高解析穿透式電子顯微鏡
HR-TEM
雙電子槍蒸鍍機
雙電子槍蒸鍍機
Ebeam
Bruker D8 Venture雙靶單晶繞射儀
Bruker D8 Venture雙靶單晶繞射儀
Bruker D8 Venture (DUO)
液相層析串聯質譜儀
液相層析串聯質譜儀
Liquid Chromatograph-Tandem Mass Spectrometer
冷場發射掃描式電子顯微鏡
冷場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM
新型雙模式雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP5
新型雙模式雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP5
Leica TCS SP5 Confocal Microscope
化學分析電子能譜儀(委託操作)
化學分析電子能譜儀(委託操作)
Electron Spectrocopy for Chemical Analysis
化學分析電子能譜儀
化學分析電子能譜儀
ESCA/XPS
場發射槍穿透式電子顯微鏡
場發射槍穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM
場發射電子微探儀
場發射電子微探儀
FE-EPMA
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D FIB
多功能高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
多功能高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
High-Resolution Scanning Electron Microscope
桌上型暨可變真空掃描式電子顯微鏡
桌上型暨可變真空掃描式電子顯微鏡
Table-top Microscope (TM3000)/ Hitachi FlexSEM1000 II
電子游離-雙聚焦磁場式質譜儀
電子游離-雙聚焦磁場式質譜儀
EI-Magnetic Sector
高性能液相層析串聯質譜儀
高性能液相層析串聯質譜儀
HPLC/MS/MS
感應耦合電漿質譜儀
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
感應耦合式電漿蝕刻系統
感應耦合式電漿蝕刻系統
ICP
超導量子干涉磁量儀
超導量子干涉磁量儀
Magnetic Property Measurement System MPMS3 Quantum Design Inc.
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
High resolution thermal field emission scanning electron microscope
元素分析儀
元素分析儀
Elemental Analyzer
原子層沉積系統
原子層沉積系統
ALD
高解像能電子顯微鏡
高解像能電子顯微鏡
HRTEM
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
高真空鍍膜系統
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
粉末繞射儀
粉末繞射儀
Powder X-ray Diffractometer
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(自行操作)
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(自行操作)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
化學分析電子能譜儀
化學分析電子能譜儀
Electron spectroscopy for chemical analysis
核磁共振影像/光譜儀
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
電漿輔助化學氣相沉積系統(PECVD)
電漿輔助化學氣相沉積系統(PECVD)
Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD)
高階三束型聚焦離子束顯微鏡
高階三束型聚焦離子束顯微鏡
Focused Ion and Electron Beam System
奈米壓痕機
奈米壓痕機
Nano-Indenter
超導核磁共振儀
超導核磁共振儀
Agilent Technologies 600MHz NMR DD2
高解像能電子顯微鏡
高解像能電子顯微鏡
HRTEM
高密度電漿化學氣相沉積系統
高密度電漿化學氣相沉積系統
CVD
CL
CL
CL
氦液化系統
氦液化系統
Helium liquefaction system
高磁場核磁共振儀 (500MHz)
高磁場核磁共振儀 (500MHz)
Bruker AVANCE 500 MHz NMR
氧化擴散系統
氧化擴散系統
Oxidation & Diffusion furnaces
成大貴儀 高溫二維X-ray 廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 高溫二維X-ray 廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
感應耦合電漿放射光譜儀
感應耦合電漿放射光譜儀
ICP-OES
X 射線光電子能譜儀
X 射線光電子能譜儀
X-ray Photoelectron Sperctroscopy
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F
全內反射螢光顯微鏡
全內反射螢光顯微鏡
TIRF
流式細胞分選儀
流式細胞分選儀
BD FACSAria III sorter
Spectra 300 雙 Cs 校正電子顯微鏡
Spectra 300 雙 Cs 校正電子顯微鏡
Spectra 300 Double Cs-Corrected 300 kV S/TEM
超導量子干涉磁化儀
超導量子干涉磁化儀
SQUID VSM
光罩對準曝光機
光罩對準曝光機
Aligner
真空快速升溫退火系統
真空快速升溫退火系統
真空快速升溫退火系統
FEG-TEM Tecnai F20 場發射穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM Tecnai F20 場發射穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM（Tecnai F20 G2 STEM）
X光粉末繞射儀
X光粉末繞射儀
X-ray Powder Diffractometer
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(委託操作)
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(委託操作)
AES/ESCA(Client service)
高解析氣相層析飛行質譜儀
高解析氣相層析飛行質譜儀
High Resolution TOF- Mass spectrometer
穿透式電子顯微鏡
穿透式電子顯微鏡
Transmission Electron Microscope
前瞻聚焦離子束系統
前瞻聚焦離子束系統
Advanced focused ion beam system
高強度多功能X光薄膜微區繞射儀
高強度多功能X光薄膜微區繞射儀
Multipurpose High intensity XRD
聚焦離子束與電子束顯微系統
聚焦離子束與電子束顯微系統
Dual beam(focused ion beam & electron beam)System
超導量子干涉儀
超導量子干涉儀
SQUID
光罩製作系統(圖形產生系統)
光罩製作系統(圖形產生系統)
Pattern Generator
多靶磁控濺鍍系統
多靶磁控濺鍍系統
Sputter
Orbitrap Fusion Lumos複合式質譜儀
Orbitrap Fusion Lumos複合式質譜儀
Orbitrap Fusion Lumos
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D HR FIB System
高解像能電子顯微鏡(具A級及B級執照)
高解像能電子顯微鏡(具A級及B級執照)
HRTEM
高能量化學分析電子能譜儀
高能量化學分析電子能譜儀
ESCA, XPS, HAXPES
NCHS-元素分析
NCHS-元素分析
elemental analysis for NCSH
正立LSM-800 with Airyscan
正立LSM-800 with Airyscan
Upright confocal microscope LSM 800 with Airyscan
熱蒸鍍系統
熱蒸鍍系統
Thermal-Evaporation Deposition System
光學微影系統
光學微影系統
MASK ALIGNER
高解析電子能譜儀
高解析電子能譜儀
HRXPS
高解析低溫電子自旋共振儀
高解析低溫電子自旋共振儀
EPR
高解析X光繞射儀
高解析X光繞射儀
HR-XRD
倒立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
倒立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Inverted confocal microscope LSM-800
共軛焦光學分析系統(委託操作)
共軛焦光學分析系統(委託操作)
Confocal Optical Analysis System
場發射掃描式電子顯微鏡(高解析SEM附EDS)
場發射掃描式電子顯微鏡(高解析SEM附EDS)
Field Emission Scanning Electron Microscope
雙鎗型離子束顯微鏡（FIB）
雙鎗型離子束顯微鏡（FIB）
Dual beam Focus Ion Beam System （FIB）
X 光單晶繞射儀
X 光單晶繞射儀
Single Crystal X-Ray Diffractometer
圖形產生系統
圖形產生系統
Pattern Generator
多功能X光繞射儀
多功能X光繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
自行操作-白天時段
自行操作-白天時段
AES/ESCA-Self operation(Day)
介電性材料活性離子蝕刻系統
介電性材料活性離子蝕刻系統
Die-electric Material RIE 400iP
LNMR600
LNMR600
LNMR600
超解析時脈頻譜共軛焦顯微鏡
超解析時脈頻譜共軛焦顯微鏡
Leica STELLARIS Confocal
場發射電子微探儀
場發射電子微探儀
High Resolution Hyper Probe
超高磁場核磁共振儀(700MHz)
超高磁場核磁共振儀(700MHz)
VARIAN 700 NMR
高效能可變溫多功能X 光繞射儀
高效能可變溫多功能X 光繞射儀
High performance low temperature and multi-function XRD
X光單晶繞射儀
X光單晶繞射儀
SXRD
高解析氣相層析質譜儀
高解析氣相層析質譜儀
AccuTOF GCX HRMS
薄膜特性分析儀
薄膜特性分析儀
N&K
多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
EFE-SEM
化學分析電子能譜儀(自行操作)--白天時段
化學分析電子能譜儀(自行操作)--白天時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
電子微探儀-真空鍍碳機
電子微探儀-真空鍍碳機
EPMA-Carbon coating
高解析質譜儀
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
多功能原子力顯微鏡
多功能原子力顯微鏡
Atomic force microscopy
Bruker AVIII-500 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-500 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-500MHz FT-NMR
二次離子質譜儀
二次離子質譜儀
TOF -SIMS
二次離子質譜儀-氧離子源
二次離子質譜儀-氧離子源
SIMS-O2 SOURCE
熱分析設備--熱重分析及差示熱分析儀
熱分析設備--熱重分析及差示熱分析儀
TGA/DSC
400MHz 核磁共振儀
400MHz 核磁共振儀
400MHz Nuclaer Magnetic Resonance 
真空濺鍍系統(B)
真空濺鍍系統(B)
Sputter(B)
高對比穿透式電子顯微鏡
高對比穿透式電子顯微鏡
HC-TEM
元素分析儀
元素分析儀
Elemental analyzer (Elementar vario EL cube)
物理性質量測系統儀
物理性質量測系統儀
Physical Property Measurement System
成大貴儀 低掠角薄膜 X 光繞射儀
成大貴儀 低掠角薄膜 X 光繞射儀
成大貴儀 Grazing incidence X-ray Diffractometer
化學分析電子光譜儀-ESCA(XPS)
化學分析電子光譜儀-ESCA(XPS)
XPS---Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
雷射直寫光罩
雷射直寫光罩
MASK MLA150
高解析掃描式電子顯微鏡 (Hitachi S-4800)
高解析掃描式電子顯微鏡 (Hitachi S-4800)
Cold-field emission Scanning Electron Microscope (Hitachi S-4800)
聚焦離子束顯微鏡
聚焦離子束顯微鏡
FIB
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡系統
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡系統
CFE-SEM
化學分析電子能譜儀(自行操作)--晚上時段
化學分析電子能譜儀(自行操作)--晚上時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
電子順磁共振光譜儀
電子順磁共振光譜儀
EPR
原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
AFM(Scanning Probe Microscope System)
三維顯微拉曼光譜影像系統
三維顯微拉曼光譜影像系統
3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer
雷射共軛焦顯微鏡
雷射共軛焦顯微鏡
Confocal Microscope
高解析度穿透式電子顯微鏡
高解析度穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡
Ultra-High Resolution FE-SEM
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
XPS/AES
加速器質譜儀
加速器質譜儀
AMS
超高解析質譜儀(ESI & MALDI)
超高解析質譜儀(ESI & MALDI)
Ultra High Resolution Mass Spectrometry
歐傑電子能譜儀
歐傑電子能譜儀
Auger Electron Spectroscopy
電子顯微鏡（積學館）-離子束與高解析掃描式電子顯微鏡
電子顯微鏡（積學館）-離子束與高解析掃描式電子顯微鏡
FIB/FE-SEM
共軛焦光學分析系統(專案研究)
共軛焦光學分析系統(專案研究)
Confocal Optical Analysis System
場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
FES/TEM
XPS
XPS
XPS
自行操作-晚上時段
自行操作-晚上時段
AES/ESCA-Self operation(night)
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
超高解析掃描式電顯穿透影像設備(SU8220 STEM)
超高解析掃描式電顯穿透影像設備(SU8220 STEM)
Hitachi SU8220-TE detecting device
二次離子質譜儀-銫離子源
二次離子質譜儀-銫離子源
SIMS-Cs SOURCE
軌道阱高解析質譜儀
軌道阱高解析質譜儀
Orbitrap
熱場發射掃描式電子顯微鏡(農)
熱場發射掃描式電子顯微鏡(農)
Thermal FESEM (JSM-7800F)
理學院一般型/ 高解析G2/T12 穿透式電子顯微鏡
理學院一般型/ 高解析G2/T12 穿透式電子顯微鏡
Hitachi H-7100 / FEI Tecnai G2/ FEI Tecnai T12
單晶X-光繞射儀
單晶X-光繞射儀
SCXRD
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀
XPS
超導量子干涉磁量儀
超導量子干涉磁量儀
Superconductor Quantum Interference Device(SQUID)
超導量子干涉元件磁量儀
超導量子干涉元件磁量儀
SQUID
高解析質譜儀
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
AES/ESCA
熱場發射掃描式電子顯微鏡-工
熱場發射掃描式電子顯微鏡-工
FESEM
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(委託服務)
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(委託服務)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
X光生物巨分子單晶繞射儀
X光生物巨分子單晶繞射儀
Macromolucular Crystallographic Instrument (MSC/Rigaku RU-H3R)
場發射穿透式電子顯微鏡
場發射穿透式電子顯微鏡
FE-TEM
感應耦合電漿質譜分析儀
感應耦合電漿質譜分析儀
ICP-MS
高解像能電子顯微鏡(委託服務)
高解像能電子顯微鏡(委託服務)
JEOL JEM-F200
500MHz 核磁共振儀
500MHz 核磁共振儀
500MHz NMR
600 MHz 固態核磁共振光譜儀
600 MHz 固態核磁共振光譜儀
600 MHz Solid-State NMR
共軛焦顯微鏡系統-正立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
共軛焦顯微鏡系統-正立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Upright confocal microscope LSM-800
共軛焦顯微鏡系統
共軛焦顯微鏡系統
Confocal microscopic system
分析型場發掃描式電子顯微鏡
分析型場發掃描式電子顯微鏡
AFE-SEM
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀
X-Ray Photoelectron Spectroscopy
穿透式小角度X-ray散射系統
穿透式小角度X-ray散射系統
SAXS
場發射型掃描式電子顯微鏡
場發射型掃描式電子顯微鏡
Field-Emission Scanning Electron Microscope
電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡
電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡
Electron Microscope- FE-TEM
液態核磁共挀儀
液態核磁共挀儀
LNMR 500
固態核磁共振光譜儀
固態核磁共振光譜儀
Bruker Avance III HD Solid State NMR
超導核磁共振儀500 MHz
超導核磁共振儀500 MHz
Varian-Unity INOVA-500 MHz
高解析液相層析串聯質譜儀
高解析液相層析串聯質譜儀
High Resolution Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer
掃描探針顯微鏡(自行操作)
掃描探針顯微鏡(自行操作)
Scanning Probe Microscopy
NCHS元素分析儀
NCHS元素分析儀
Elemental analysis: Elementar vario EL cube-CHNS & O
低壓化學氣相沉積系統
低壓化學氣相沉積系統
Low Pressure Chemical Vapor Deposition System
真空濺鍍系統(A)
真空濺鍍系統(A)
Sputter(A)
冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器
冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器
Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) & En
全自動數位穿透式電子顯微鏡
全自動數位穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡
高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡
High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡
Talos F200X G2
掃描探針顯微鏡(委託操作)
掃描探針顯微鏡(委託操作)
Scanning Probe Microscopy
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
600 MHz 核磁共振儀
600 MHz 核磁共振儀
600 MHz NMR Spectroscopy Analysis System
穿透式電子顯微鏡
穿透式電子顯微鏡
TEM
Bruker AVIII-800 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-800 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-800 MHz NMR
高解析掃描穿透式電子顯微鏡
高解析掃描穿透式電子顯微鏡
High Resolution STEM
理學院掃描式電子顯微鏡
理學院掃描式電子顯微鏡
Scanning Electron Microscope
高解析感應耦合電漿質譜分析儀
高解析感應耦合電漿質譜分析儀
HR-ICPMS
白光雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP8 X
白光雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP8 X
Leica TCS SP8 X Confocal Microscope
超高解析冷槍場放射型掃描式(Hitachi SU8220)
超高解析冷槍場放射型掃描式(Hitachi SU8220)
UHR CFE-SEM Hitachi SU8220
反射式小角度X-ray散射系統
反射式小角度X-ray散射系統
GISAXS
多功能 X 光 繞射儀
多功能 X 光 繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
電子順磁共振光譜儀
電子順磁共振光譜儀
EPR
成大貴儀 高溫二維X-ray廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 高溫二維X-ray廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀
SEM & EBSD
高解析Orbitrap質譜儀
高解析Orbitrap質譜儀
CE/LC-MS
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM+EDS/WDS system
場發射穿透式電子顯微鏡
場發射穿透式電子顯微鏡
FETEM
感應耦合電漿質譜儀
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
超導量子干涉儀
超導量子干涉儀
Superconducting quantum interference device
單晶X光繞射儀
單晶X光繞射儀
SC-XRD
導電性材料活性離子蝕刻機（Deep-Si RIE HDP-
導電性材料活性離子蝕刻機（Deep-Si RIE HDP-
Reactive Ion Etcher ( Deep-Si RIE . HDP-RIE ）
五星好評儀器