國立臺灣大學貴重儀器中心
Instrumentation Center at NTU
國立中興大學貴重儀器中心
Instrumnt center of Chung Hsing University
國立成功大學核心設施中心
Core Facility Center, National Cheng Kung University
國立清華大學貴重儀器使用中心
Instrumentation Center at NTHU
國立陽明交通大學儀器資源中心
National Yang Ming Chiao Tung Univ. Instrumentation Resource Center
國立中山大學貴重暨共用儀器中心
Joint Center for High Valued Instruments at NSYSU
國立臺灣師範大學貴重儀器使用中心
National Taiwan Normal University Instrumentation Center
國立中央大學貴重儀器使用中心
Precious Instrument Utilization Center at NCU
600 MHz NMR核磁共振儀
600 MHz NMR
二次離子質譜儀-銫離子源
SIMS-Cs SOURCE
線性離子阱-軌道阱質譜儀
LTQ
多功能環境場發掃描式電子顯微鏡
EFE-SEM
高解析低溫電子自旋共振儀
EPR
高解析Orbitrap質譜儀
CE/LC-MS
超導量子干涉儀
Superconducting quantum interference device
冷場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM
高解析場發射鎗掃描式電子顯微鏡
High Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope
冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器
Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) & En
300 MHz NMR核磁共振儀
300 MHz NMR
雙球差場發300kV掃描穿透式電子顯微鏡
Thermo Fisher Spectra 300 FEG-S/TEM
真空濺鍍系統(A)
Sputter(A)
超導核磁共振儀
Agilent Technologies 600MHz NMR DD2
高強度多功能X光薄膜微區繞射儀
Multipurpose High intensity XRD
高解析多功能薄膜Ｘ光分析儀
High Resolution X-Ray Diffraction
理學院掃描式電子顯微鏡
Scanning Electron Microscope
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
加速器質譜儀碳十四定年
AMS Radiocarbon dating
超高解析冷槍場放射型掃描式(Hitachi SU8220)
UHR CFE-SEM Hitachi SU8220
X光光電子暨歐傑電子能譜儀
XPS/AES
穿透式及反射式小角度X-ray散射系統
Transmission/grazing-incidence small-angle X-ray scattering
雷射共軛焦顯微鏡
Confocal Microscope
理學院T12 120keV穿透式電子顯微鏡(T12 TEM)
FEI T12 TEM
共軛焦顯微鏡系統-正立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Upright confocal microscope LSM-800
化學分析電子能譜儀
ESCA
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡
Ultra-High Resolution FE-SEM
高階三束型聚焦離子束顯微鏡
Focused Ion and Electron Beam System
高解析度螢光影像流式細胞儀
ImageStreamX Mark II
場發射型掃描式電子顯微鏡
Field-Emission Scanning Electron Microscope
自行操作-晚上時段
AES/ESCA-Self operation(night)
場發射掃描式電子顯微鏡
FESEM+EDS/WDS system
NCHS-元素分析
elemental analysis for NCSH
超高解析掃描式電顯穿透影像設備(SU8220 STEM)
Hitachi SU8220-TE detecting device
穿透式小角度X-ray散射系統
SAXS
歐傑電子能譜儀
Auger Electron Spectroscopy
理學院一般型/ 高解析G2/T12 穿透式電子顯微鏡
Hitachi H-7100 / FEI Tecnai G2/ FEI Tecnai T12
高通量顯微影像擷取暨分析系統
High Content Micro-Imaging Acquisition and Screening System
光罩對準曝光機
Aligner
高解析氣相層析飛行質譜儀
High Resolution TOF- Mass spectrometer
化學分析電子能譜儀
Electron spectroscopy for chemical analysis
熱蒸鍍系統
Thermal-Evaporation Deposition System
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(委託服務)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
核磁共振儀(600, 500 及 300 MHz),共三台
Nuclear Magnetic Resonance
介電性材料活性離子蝕刻系統
Die-electric Material RIE 400iP
高解析掃描穿透式電子顯微鏡
High Resolution STEM
成大貴儀 小角度 X 光散射儀
成大貴儀 Small angle X-ray scattering
電子顯微鏡（積學館）-離子束與高解析掃描式電子顯微鏡
FIB/FE-SEM
X光粉末繞射儀
X-ray Powder Diffractometer
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
光罩製作系統(圖形產生系統)
Pattern Generator
軟物質分析穿透式電子顯微鏡
JEOL JEM-2100 ELECTRON MICROSCOPE
自行操作-白天時段
AES/ESCA-Self operation(Day)
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
高解析電子微探儀
Field Emission Electron Probe Microanalyzer JEOL JXA 8530F
共軛焦光學分析系統(委託操作)
Confocal Optical Analysis System
掃描探針顯微鏡(委託操作)
Scanning Probe Microscopy
場發射穿透式電子顯微鏡
FETEM
流式細胞分選儀
Fluorescence-activated cell sorter
多功能原子力顯微鏡
Atomic force microscopy
流式細胞分選儀
BD FACSAria III sorter
感應耦合電漿質譜分析儀
ICP-MS
核磁共振影像/光譜儀
Bruker S300/Bruker BIOSPEC 70/30
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
High resolution thermal field emission scanning electron microscope
穿透式電子顯微鏡
Transmission Electron Microscope
X 光單晶繞射儀
Single Crystal X-Ray Diffractometer
場發射電子微探儀
FE-EPMA
掃描式電子顯微鏡
SEM
三五族分子束磊晶系統
III-V Molecular Beam Epitaxy System
前瞻聚焦離子束系統
Advanced focused ion beam system
NCHS元素分析儀
Elemental analysis: Elementar vario EL cube-CHNS & O
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
化學分析電子光譜儀--xps
XPS(ESCA)
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D FIB
場發射掃描式電子顯微鏡(高解析SEM附EDS)
Field Emission Scanning Electron Microscope
場發射電子微探儀
High Resolution Hyper Probe
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(自行操作)
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
共軛焦光學分析系統(專案研究)
Confocal Optical Analysis System
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
桌上型暨可變真空掃描式電子顯微鏡
Table-top Microscope (TM3000)/ Hitachi FlexSEM1000 II
Bruker D8 Venture雙靶單晶繞射儀
Bruker D8 Venture (DUO)
生物型核磁共振儀 (Bio 850MHz)
BioNMR 850MHz
超導量子干涉儀
SQUID
電子游離-雙聚焦磁場式質譜儀
EI-Magnetic Sector
高對比穿透式電子顯微鏡
HC-TEM
粉末繞射儀
Powder X-ray Diffractometer
高功率X光繞射儀
XRD
元素分析儀
Elemental Analyzer
化學分析電子能譜儀(委託操作)
Electron Spectrocopy for Chemical Analysis
變溫探針顯微鏡
Atom force microscopy
冷場發掃描式電子顯微鏡
FE-SEM ( HITACHI Regulus-8100 )
共軛焦光譜顯微影像系統及活細胞即時影像系統
Confocal Spectral Microscope Imaging System and Live Cell Imaging Syst
熱分析設備
TA
多靶磁控濺鍍系統
Sputter
掃描探針顯微鏡(自行操作)
Scanning Probe Microscopy
導電性材料活性離子蝕刻機（Deep-Si RIE HDP-
Reactive Ion Etcher ( Deep-Si RIE . HDP-RIE ）
奈米壓痕機
Nano-Indenter
高解析液相層析串聯質譜儀
Compact Q/TOF LC-MS System
超高解析冷場發射掃描式電子顯微鏡系統
CFE-SEM
電子順磁共振儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
氬離子切割研磨機含空氣阻斷配件
Ion Milling with Cooling control unit and Air Protection System
超高解析質譜儀(ESI & MALDI)
Ultra High Resolution Mass Spectrometry
AVIII HD 700MHz 高磁場超導核磁共振儀
Superconducting FT NMR Spectrometer AVANCE III HD 700 MHz
高解析氣相層析質譜儀
AccuTOF GCX HRMS
高解析場發射掃描穿透式電子顯微鏡
Talos F200X G2
薄膜特性分析儀
N&K
全內反射螢光顯微鏡
TIRF
聚焦離子束與電子束顯微系統
Dual beam(focused ion beam & electron beam)System
JEOL 3010 TEM穿透式電子顯微鏡
JEOL 3010 Analytical Scanning Transmission Electron Microscope
二次離子質譜儀
TOF -SIMS
球面像差修正掃描穿透式電子顯微鏡
ARM
600MHz 核磁共振儀( JEOL ECZ-600R)
JEOL ECZ-600R 600MHz NMR
雙電子槍蒸鍍機
Ebeam
高解析掃描式電子顯微鏡 (Hitachi S-4800)
Cold-field emission Scanning Electron Microscope (Hitachi S-4800)
氦液化系統
PSI Model 1610 Helium Liquefier System
理學院穿透式電子顯微鏡
Hitachi H-7100 TEM
快速退火系統
RTA
基質輔助雷射脫附游離飛行時間質譜儀
MALDI-TOF/MS
高解析穿透式電子顯微鏡
HR-TEM
500 MHz NMR核磁共振儀
500 MHz NMR
液相層析串聯質譜儀
Liquid Chromatograph-Tandem Mass Spectrometer
高解析X光繞射儀
HR-XRD
液態核磁共挀儀
LNMR 500
電漿輔助化學氣相沉積系統(PECVD)
Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition(PECVD)
原子層沉積系統
ALD
超高解析場發射掃描式電子顯微鏡暨電子背向散射繞射儀
SEM & EBSD
600 MHz 固態核磁共振光譜儀
600 MHz Solid-State NMR
高解像能電子顯微鏡(具A級及B級執照)
HRTEM
多功能聚焦離子束系統
Focused Ion Beam System(FIB)
電子顯微鏡(積學館)-場發射穿透式電子顯微鏡
Electron Microscope- FE-TEM
X 射線光電子能譜儀
X-ray Photoelectron Sperctroscopy
X光單晶繞射儀
SXRD
高真空鍍膜系統
High Vacuum Deposition System
原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
AFM(Scanning Probe Microscope System)
共軛焦顯微鏡系統
Confocal microscopic system
圖形產生系統
Pattern Generator
500MHz 核磁共振儀
500MHz NMR
場發射槍穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM
全自動數位穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
化學分析電子能譜儀(自行操作)--白天時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
氧化擴散系統
Oxidation & Diffusion furnaces
三維顯微拉曼光譜影像系統
3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer
成大貴儀 高溫二維X-ray 廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
場發射掃描式電子顯微鏡
Filed emission scanning electronic microscope
單晶X光繞射儀
SC-XRD
Bruker AVIII-800 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-800 MHz NMR
高解析感應耦合電漿質譜分析儀
HR-ICPMS
光學微影系統
MASK ALIGNER
Orbitrap Fusion Lumos複合式質譜儀
Orbitrap Fusion Lumos
高解析度探針顯微鏡
Atom force microscopy
高解像能電子顯微鏡
HRTEM
X射線光電子能譜儀
X-Ray Photoelectron Spectroscopy
超導核磁共振儀500 MHz
Varian-Unity INOVA-500 MHz
低壓化學氣相沉積系統
Low Pressure Chemical Vapor Deposition System
化學分析電子光譜儀-ESCA(XPS)
XPS---Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
高磁場核磁共振儀 (500MHz)
Bruker AVANCE 500 MHz NMR
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
AES/ESCA
高解析質譜儀
High Resolution Mass Spectrometer
多功能高解析場發射型掃描式電子顯微鏡
High-Resolution Scanning Electron Microscope
高效能可變溫多功能X 光繞射儀
High performance low temperature and multi-function XRD
霍氏轉換紅外光譜儀
FTIR
高解析液相層析串聯質譜儀
High Resolution Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer
600 MHz 核磁共振儀
600 MHz NMR Sectroscopy Analysis System
超導量子干涉磁量儀
Superconductor Quantum Interference Device(SQUID)
電子順磁共振光譜儀
EPR
高能量化學分析電子能譜儀
ESCA, XPS, HAXPES
穿透式電子顯微鏡
JEOL JEM-2010 ELECTRON MICROSCOPE
活細胞即時影像系統
Live cell imaging system
多光子共軛焦顯微系統(MCMS)
Multiphoton and Confocal Microscope System
分析型場發掃描式電子顯微鏡
AFE-SEM
電子順磁共振光譜儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
拉曼光譜儀
RS
固態核磁共振光譜儀
Bruker Avance III HD Solid State NMR
核磁共振儀
Bruker 600MHz
振動光譜顯影系統
Vibrational Spectroscopic Imaging system
熱場發射式電子顯微鏡及能量頻譜分析儀
JSM-7100F Scanning Electron Microscopy
二次離子質譜儀-氧離子源
SIMS-O2 SOURCE
雷射直寫光罩
MASK MLA150
場發射穿透式電子顯微鏡(含EDS)JEM-2100F
Field Emission Transmission Electron Microscope (含EDS)JEM-2100F
感應耦合電漿質譜儀
ICP-MS
活體冷螢光影像暨分子影像系統(IVIS&MRI)
IVIS Luminar II in vivo imaging system (now under PerkinElmer) & Aspec
場發射穿透式電子顯微鏡
FE-TEM
成大貴儀 高溫二維X-ray廣角繞射儀(粉末X光二維繞射儀
成大貴儀 High Temperature 2D X-ray Diffractometer
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM(JEOL-JSM7610F)
白光雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP8 X
Leica TCS SP8 X Confocal Microscope
高解析電子能譜儀
HRXPS
正立LSM-800 with Airyscan
Upright confocal microscope LSM 800 with Airyscan
反射式小角度X-ray散射系統
GISAXS
新型雙模式雷射共軛焦顯微鏡 TCS SP5
Leica TCS SP5 Confocal Microscope
低溫陰極螢光分析系統(暨SEM/EDS)
Crygenic Cathodoluminescence system
LNMR600
LNMR600
成大貴儀 低掠角薄膜 X 光繞射儀
成大貴儀 Grazing incidence X-ray Diffractometer
電子微探儀-真空鍍碳機
EPMA-Carbon coating
真空濺鍍系統(B)
Sputter(B)
超導量子干涉磁化儀
SQUID VSM
場發射掃描式電子顯微鏡
SEM ZEISS ∑IGMA Essential
場發射掃描式電子顯微鏡
FE-SEM
FEG-TEM Tecnai F20 場發射穿透式電子顯微鏡
FEG-TEM（Tecnai F20 G2 STEM）
化學分析電子能譜儀
ESCA/XPS
感應耦合式電漿蝕刻系統
ICP
熱分析設備--熱重分析及差示熱分析儀
TGA/DSC
歐傑暨化學分析電子掃描微探儀(委託操作)
AES/ESCA(Client service)
物理性質量測系統儀
Physical Property Measurement System
單晶X-光繞射儀
SCXRD
場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
FES/TEM
理學院高解析穿透式電子顯微鏡 (HR-TEM)
FEI Tecnai G2 (200kV)(LaB6)
穿透式電子顯微鏡
TEM
X射線光電子能譜儀
XPS
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
高解析度穿透式電子顯微鏡
High Resolution Transmission Electron Microscope
雷射掃描共軛焦顯微鏡系統
Zeiss LSM880 with airyscan
高密度電漿化學氣相沉積系統
CVD
微波及亳米波通道量測訊號合成及分析儀
Microwave and millimeterwave signal generator and analyzer for channel
雙鎗型離子束顯微鏡（FIB）
Dual beam Focus Ion Beam System （FIB）
高解像能電子顯微鏡(委託服務)
JEOL JEM-F200
Bruker AVIII-500 超導核磁共振儀
Bruker AVIII-500MHz FT-NMR
氦液化系統
Helium liquefaction system
X光生物巨分子單晶繞射儀
Macromolucular Crystallographic Instrument (MSC/Rigaku RU-H3R)
軌道阱高解析質譜儀
Orbitrap
熱場發射掃描式電子顯微鏡(農)
Thermal FESEM (JSM-7800F)
超導量子干涉元件磁量儀
SQUID
XPS
XPS
電子順磁共振光譜儀
Electron Paramagnetic Resonance Spectrometer
熱場發射掃描式電子顯微鏡-工
FESEM
感應耦合電漿放射光譜儀
ICP-OES
軟物質穿透式電子顯微鏡
Soft matter TEM
元素分析儀
Elemental analyzer (Elementar vario EL cube)
倒立式共軛焦顯微鏡 LSM-800
Inverted confocal microscope LSM-800
FEI Versa 3D 高解析雙束型聚焦離子束系統
FEI Versa 3D HR FIB System
多功能X光繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer
化學分析電子能譜儀(自行操作)--晚上時段
Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
超高磁場核磁共振儀(700MHz)
VARIAN 700 NMR
多功能 X 光 繞射儀
Multi-function X-ray Diffractometer